當前位置:珠海天創(chuàng)儀器有限公司>>技術文章>>膜厚測試儀的使用方法
膜厚測試儀的使用方法
膜厚測試儀,分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理是,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
測定準備
(1)確保電池正負極方向正確無誤后設定。
(2)探頭的選擇和設定:在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定對象,在本體上進行設定。
測定方法
(1)探頭的選擇和安裝方法:確認電源處于OFF狀態(tài),與測定對象的質(zhì)地材質(zhì)接觸,安裝LEP-J或LHP-J。
(2)調(diào)整:確認測定對象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時要進行調(diào)整。
(3)測定:在探頭的末端加一定的負荷,即使用[一點接觸定壓式]。抓住與
測定部接近的部分,迅速在與測定面成垂直的角度按下。下述的測定,每次都
要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測定平面時,如果采用探頭適配器,可以更加穩(wěn)定地進行測定。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。