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隨著各行各業(yè)對(duì)電子產(chǎn)品的需求逐漸增加，電子元器件也逐漸變得更精密。對(duì)元器件的外觀或更精細(xì)的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的觀察與檢測(cè)也成為了檢驗(yàn)其品質(zhì)的關(guān)鍵。為加強(qiáng)技術(shù)交流，分享先進(jìn)的制樣方法經(jīng)驗(yàn)。10月26日，電子樣品顯微切片與無損檢測(cè)技術(shù)研討會(huì)在松山湖材料實(shí)驗(yàn)室圓滿落幕。
本次研討會(huì)主要是技術(shù)交流與現(xiàn)場(chǎng)上機(jī)操作指導(dǎo)。參會(huì)人員不僅能現(xiàn)場(chǎng)交流分析與探討電子樣品顯微切片與無損檢測(cè)技術(shù)，更能現(xiàn)場(chǎng)近距離體驗(yàn)設(shè)備的操作與觀察樣品。
會(huì)議的開場(chǎng)由松山湖材料實(shí)驗(yàn)室研究員胡偉老師致辭，歡迎各方到來的來賓參加此次會(huì)議，并對(duì)松山湖材料實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行介紹。
隨后由領(lǐng)拓的高級(jí)應(yīng)用工程師任飛霖講解了電子樣品切片分析的常見問題解析及應(yīng)用分享。再由領(lǐng)拓的高級(jí)應(yīng)用工程師鄒子康進(jìn)行電子樣品內(nèi)部無損檢測(cè)應(yīng)用分享。最后由徠卡的高級(jí)應(yīng)用工程師包沈源博士進(jìn)行離子研磨技術(shù)在電子元器件的應(yīng)用探討。上半場(chǎng)的會(huì)議既有深刻的理論深度，又有寶貴的應(yīng)用案例，干貨滿滿，獲得了現(xiàn)場(chǎng)參會(huì)人員的好評(píng)。
會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)
下半場(chǎng)對(duì)松山湖材料實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行參觀，并進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)上機(jī)操作指導(dǎo)。參觀過程中，工作人員對(duì)松山湖材料實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有的設(shè)備進(jìn)行了詳細(xì)介紹。同時(shí)，領(lǐng)拓的應(yīng)用工程師還為參觀人員現(xiàn)場(chǎng)演示了樣品的檢測(cè)過程，就現(xiàn)場(chǎng)參會(huì)人員咨詢的問題進(jìn)行了詳細(xì)解答及操作演示。
實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)場(chǎng)
為了感謝大家的到來，領(lǐng)拓團(tuán)隊(duì)還為現(xiàn)場(chǎng)的參會(huì)人員派發(fā)活動(dòng)券，開展活動(dòng)，現(xiàn)場(chǎng)氛圍活躍，大家都積極參與活動(dòng)，爭(zhēng)當(dāng)幸運(yùn)兒。活動(dòng)結(jié)束后還貼心的為大家準(zhǔn)備了茶歇以及午餐券。
活動(dòng)
一等獎(jiǎng)
二等獎(jiǎng)
三等獎(jiǎng)
領(lǐng)拓儀器對(duì)會(huì)議的安排以及在眾多設(shè)備的加持與公司實(shí)力的并存下，客戶的滿意度直線上升。不少參會(huì)人員表示有機(jī)會(huì)的話下次還會(huì)參加。
領(lǐng)拓儀器精彩不斷，只要您有檢測(cè)需求，領(lǐng)拓儀器即可為您定制專項(xiàng)分析檢測(cè)解決方案，期待下一個(gè)會(huì)議我們?cè)傧鄷?huì)。
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