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中國儀器網(wǎng) 會展報道】2018年3月30日,中國北京蟹島會議中心中人潮涌動,北京理化分析測試技術(shù)學(xué)會北京
質(zhì)譜學(xué)會在此召開“2018年度北京質(zhì)譜年會”。300余位來自高校院所、企事業(yè)單位的代表參加了此次會議。
會議為期兩日(30日—31日),主題為“生命與健康”,旨在加強學(xué)術(shù)交流,了解質(zhì)譜新技術(shù)和交叉學(xué)科的新進展,推進質(zhì)譜技術(shù)、
色譜與質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)在分析科學(xué)中的發(fā)展與應(yīng)用。會議交流形式包括大會報告、學(xué)術(shù)沙龍、質(zhì)譜技術(shù)及應(yīng)用培訓(xùn)。為了推動質(zhì)譜技術(shù)交流與推廣,會議將邀請院士和質(zhì)譜專家作質(zhì)譜前沿技術(shù)與應(yīng)用新進展報告。期間大會還設(shè)置了11個展位,組織質(zhì)譜廠家進行新產(chǎn)品技術(shù)報告及儀器展示,島津、賽默飛、安捷倫、IONTOF作為贊助企業(yè)更是吸引了無數(shù)目光。
此次參會的是德國ION TOF駐中國辦事處北京艾飛拓科技有限公司,公司致力于材料分析儀器研發(fā)與銷售,秉承以用戶的需求為導(dǎo)向、以的品質(zhì)為核心、以服務(wù)為宗旨,為用戶提供科學(xué)、合理的解決方案,為各行業(yè)的客戶服務(wù)。公司產(chǎn)品主要包括飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF SIMS),低能離子散射譜儀(LEIS),高分辨磁力顯微鏡(HrMFM)等,并廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、微電子、材料、化學(xué)、醫(yī)藥、生物、冶金、環(huán)保、汽車工業(yè)等領(lǐng)域。
在本次會議期間,作為會議的主要贊助商之一,德國ION TOF在會議期間開展了一系列精彩的活動。在新技術(shù)報告中,派出了專家Seven Kayser發(fā)表質(zhì)譜前沿技術(shù)報告:Hybrid SIMS:A new instrument for high resolution organic imaging with highest mass-resolving power and MS/MS。更通過TOF SIMS 5飛行時間二次離子質(zhì)譜的亮相,秀出了實力。
在艾飛拓的展位上,中國儀器網(wǎng)記者先看到的就是這款TOF SIMS 5飛行時間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)。它是一種非常靈敏的分析系統(tǒng),通過對樣品表面進行轟擊產(chǎn)生的二次離子,可以確定表面元素的構(gòu)成。
這款儀器的應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛,可以用于材料表面和表層的化學(xué)成份分析?;瘜W(xué)元素或化合物在表面和塊體材料內(nèi)部的分布。以及生物組織表面和內(nèi)部成份和分布分析。包括如半導(dǎo)體、醫(yī)藥、生物、冶金、汽車等領(lǐng)域。對樣品的分析,如痕量金屬探測、化合物結(jié)構(gòu)測定、原子量測定、同位素標定、失效分析等方面研究應(yīng)用廣泛。許多用XPS,AES等分析不能確定的物質(zhì),都可以采用飛行時間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)分析。
TOF SIMS 5
產(chǎn)品主要特點:
1、可以并行探測所有元素和化合物,具有極高的傳輸率,只需要一次轟擊就可以得到研究點的完整質(zhì)量譜圖。
2、可以探測的質(zhì)量數(shù)范圍包括10000原子量單位以下的所有材料,包括H, He等元素。
3、可以分辨同位素。
4、質(zhì)量分辨率可以達到10000至15000以上!
5、具有很小的信息深度(小于1nm),可以分析材料表層(原子層)的結(jié)構(gòu)。
6、極高的空間分辨率,對于樣品表面的組成結(jié)構(gòu)一目了然。
7、達到ppm - ppb級的探測極限。
8、對于化合物,可以同時給出分子離子峰和官能團碎片峰;可以方便的分析出化合物和有機大分子的整體結(jié)構(gòu)。
9、采用雙束離子源可以對樣品進行快速深度剖析。
10、采用的電子中和槍,可以的分析絕緣材料。
作為德國ION TOF駐中國辦事處的北京艾飛拓,售后服務(wù)完善、技術(shù)水平較高,有北大、中科院等院校高層次人才,具有豐富的SIMS經(jīng)驗。未來必定能夠幫助ION TOF將更多儀器提供給國內(nèi)的科研工作者和企業(yè),并推動我國質(zhì)譜技術(shù)不斷向好發(fā)展。
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