ZLKSDY4四探針測試儀 本儀器可滿足半導(dǎo)體材料、器件的研究生產(chǎn)單位對材料(棒材、片材)電阻率及擴散層、離子注入層、異型外延層和導(dǎo)電薄膜方塊電阻測量的需要。

技術(shù)指標
1 測量范圍: 電阻率:0.001-200Ω.cm(可擴展);
方塊電阻:0.01-2000Ω/口(可擴展);
2 可測晶片直徑(zui大):100mm(配J-2B型手動測試臺)
  200mm(配J-51型手動測試臺)
3 恒流源:電流量程分為0.1、1、10、100(mA)四檔,各檔電流連續(xù)可調(diào).誤差<±0.3%
4 數(shù)字電壓表:
量程:0-199.99mV; 分辨率:10μV
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、小數(shù)點、超量程自動顯示。
輸入阻抗>1000MΩ; 精度:±0.1%.
5 zui大電阻測量誤差(按JJG508-87進行):0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字.
6 四探針探頭:
間距:1±0.01mm;針間絕緣電阻≥1000MΩ;機械游移率:≤0.3%
探針壓力:TZT-9A/9B: 12-16牛頓(總力) TZT-9C/9D 5-8 牛頓(總力)
7 整機不確定度:(用硅標樣片測試)≤5% (0.01-180Ω.cm)
8 外形尺寸:電氣主機:360mm×320mm×100mm；數(shù)據(jù)處理器：300mm×210mm×105mm
9 數(shù)據(jù)處理器功能:
A 鍵盤控制測量取數(shù),自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示出平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正;
B 鍵盤控制數(shù)據(jù)處理,運算電阻率平均值和電阻率值zui大百分變化及平均百分變化;
C 鍵盤控制打印全部測量數(shù)據(jù).測量條件、zui大電阻率值、zui小電阻率值、電阻率zui大百分變化及平均百分變化。
10 儀器重量：電氣主機：約4kg；測試臺：約10kg，數(shù)據(jù)處理器：約2.5kg
11 測試環(huán)境：溫度23±2℃；相對濕度≤65％；無高頻干擾；無強光照射。 

 配置

四探針測試儀主機、J-2B測試架、ZLKTZT-9D四探針探頭

14000/套配置

四探針測試儀主機、J-2B測試架、ZLKTZT-9D四探針探頭、ZLK710E型微處理器

19600/套