Ｘ射線衍射儀可在大氣中無(wú)損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且，可通過(guò)峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過(guò)半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

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Ｘ射線衍射儀可在大氣中無(wú)損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且，可通過(guò)峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過(guò)半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

 

X射線發(fā)生部：2KW或3KW（CUP控制）

測(cè)角儀：θs/ θd聯(lián)動(dòng)，θs、θd獨(dú)立

掃描范圍：-12°~164°（2θ），-6°~82°（θs）, -6°~132°（θd）

選配件：大型R-θ樣品臺(tái)，多毛細(xì)管平行光學(xué)系統(tǒng)

Ｘ射線衍射儀可在大氣中無(wú)損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且，可通過(guò)峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過(guò)半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

·  XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀，能夠測(cè)定超大型樣品。
·  不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過(guò)追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測(cè)定、樣品加熱過(guò)程的分析、薄膜樣品測(cè)定等。

·  采用強(qiáng)大的多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)，可對(duì)應(yīng)凹凸不同的樣品的分析，擴(kuò)大應(yīng)用范圍。
   使用多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)的測(cè)定實(shí)例