賽默飛熒光光譜儀提供zui大范圍的樣品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大塊固體、顆粒、粉末、薄膜和液體。這款全面的臺(tái)式 EDXRF（能量色散 X 射線熒光）系統(tǒng)配備無標(biāo)樣軟件和配件，可滿足中心實(shí)驗(yàn)室、合同實(shí)驗(yàn)室以及環(huán)境監(jiān)測(cè)、化工、采礦、法醫(yī)、食品、電子、水泥以及金屬行業(yè)的元素分析需求。

賽默飛熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

• * Peltier Si(Li) 冷卻檢測(cè)器 或者 1mm 厚的硅漂移檢測(cè)器 (SDD)。

• 數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)。

• 高性能、多元素分析。

• 選配的 Thermo Scientific™ UniQuant™ 軟件可提供優(yōu)秀的無標(biāo)樣分析。

賽默飛熒光光譜儀 的功能變得更加強(qiáng)大！除了 Peltier 冷卻 Si(Li) 檢測(cè)器，現(xiàn)在該儀器還安裝了厚 1mm、面積 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能夠以出色的分辨率處理高計(jì)數(shù)率，而且通常比 Si(Li) 檢測(cè)器薄得多。常見厚度為 0.45mm，更高能量下的檢測(cè)效率較差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，達(dá)到 1mm。與基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表現(xiàn)出更好的靈敏度，檢測(cè)極限增加到原來的 2 倍，還適用于 Cd 和 Sn 等重金屬元素。另外，計(jì)數(shù)時(shí)間還可以減少為原來的 1/4！新型 SDD1000 結(jié)合了 SDD 和 Si(Li) 檢測(cè)器的優(yōu)點(diǎn)。 

賽默飛熒光光譜儀提供元素分析的極限性能、多用途和可靠性。其緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì)、緊密耦合光學(xué)器件以及*的電子冷卻檢測(cè)器，讓我們能夠在從 ppm 到百分比元素濃度的廣泛動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)獲得無以倫比的分析精確度。