Nanofirst 3600是一款高性價比的一體式原子力顯微鏡(AFM),具有性能穩(wěn)定,操作簡便和實用性強等優(yōu)點,可實現(xiàn)高分辨納米、亞納米測試。適合于高校納米科技教學、科學研究、納米材料及粉體分析、電化學測量、生物制藥和工業(yè)現(xiàn)場測試。作為專業(yè)AFM制造商,海茲思具有十多年的AFM技術(shù)經(jīng)驗和積累,能夠提供及時的專業(yè)和售后服務(wù)。
特點及用途:
>為科研和工業(yè)應(yīng)用設(shè)計,用于各類納米材料樣品測量表征;
>一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計,配有專業(yè)的防震系統(tǒng)
>集成接觸模式和動態(tài)力模式原子力顯微鏡、摩擦力顯微鏡功能;
>多通道圖像同步采集顯示,實時觀測形貌圖、摩擦力圖、振幅圖等;
>定點實時測試F-Z曲線、f-RMS曲線、RMS-Z曲線等多種曲線功能;
>設(shè)置“掃描頻率安全上限”功能,可限制zui快掃描頻率,保護探針;
>圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能;
>配備二維微米樣品移動平臺,快速搜索樣品區(qū)域;
>高精度探針-樣品定位系統(tǒng),直接定位到高倍CCD(選配)任意可視的微米級區(qū)域進行掃描;
>可增配模式:磁力、相位和靜電力。