HEKA EIProscan是一臺(tái)掃描探針顯微鏡，它是研究樣品表面電化學(xué)活性的強(qiáng)有力的工具。該系統(tǒng)包括三個(gè)主要部分：定位裝置、雙恒電位儀及數(shù)據(jù)采集/分析單元。定位裝置實(shí)現(xiàn)探針在樣品表面的掃描和精確定位，這與一般的掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)相同。

儀器簡(jiǎn)介：

HEKA EIProscan是一臺(tái)掃描探針顯微鏡，它是研究樣品表面電化學(xué)活性的強(qiáng)有力的工具。該系統(tǒng)包括三個(gè)主要部分：定位裝置、雙恒電位儀及數(shù)據(jù)采集/分析單元。定位裝置實(shí)現(xiàn)探針在樣品表面的掃描和精確定位，這與一般的掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）相同。
EIProscan與普通的SECM的差別在于：EIProscan采用FPP（free programmable pulse）協(xié)議可對(duì)探針執(zhí)行任意的電化學(xué)方法，基于該協(xié)議，可在樣品進(jìn)行電化學(xué)測(cè)試的同時(shí)對(duì)探針施加與樣品相同的電信號(hào)，該方法對(duì)于電活性表面的微觀(guān)修飾及材料對(duì)于電擾動(dòng)的響應(yīng)等研究非常重要。
EIProscan系統(tǒng)的應(yīng)用面非常廣，除基礎(chǔ)的表面成像外，還能進(jìn)行電荷傳遞反應(yīng)、均相反應(yīng)、液/液界面反應(yīng)等基礎(chǔ)研究，材料選型、微區(qū)pH分布、微區(qū)腐蝕監(jiān)測(cè)及電化學(xué)刻蝕等應(yīng)用研究。
EIProscan是一套高度集成、控制非常簡(jiǎn)單的儀器，硬件采用研究級(jí)的高檔配置，所有功能通過(guò)軟件執(zhí)行。
與EIProscan配套的雙恒電位儀的測(cè)量電流達(dá)到2A，并可用于其他的電化學(xué)測(cè)試，如RRDE。.
EIProscan小電流測(cè)試能力也非常出色，通過(guò)內(nèi)置的小電流放大器可檢測(cè)p*電流。
EIProscan定位系統(tǒng)的特點(diǎn)是具有大掃描范圍和納米級(jí)的位移分辨率。微觀(guān)電化學(xué)實(shí)驗(yàn)中，探針位置的確定決定著實(shí)驗(yàn)的成敗，EIProscan采用步進(jìn)馬達(dá)和壓電材料的結(jié)合既保證了實(shí)驗(yàn)的精度和重現(xiàn)性，又提高了位移的速度。

技術(shù)參數(shù)：

獨(dú)立于PC操作系統(tǒng)的32位實(shí)時(shí)處理器綜合線(xiàn)性解碼和采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù)得出探針的相對(duì)位置。
高精度步進(jìn)馬達(dá)的一次步進(jìn)精度為10nm,Z方向使用額外的壓電元件，可以達(dá)到1.5nm的精度。

掃描的速度范圍為15nm-100um/s。
大掃描范圍
各方向掃描范圍為100x100x50mm。

恒速掃描
通過(guò)實(shí)時(shí)速度監(jiān)測(cè)實(shí)現(xiàn)。
掃描控制
獨(dú)立于PC操作系統(tǒng)的32位實(shí)時(shí)處理器綜合線(xiàn)性解碼和采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù)得出探針的相對(duì)位置。
高精度和普通步進(jìn)馬達(dá)的一次步進(jìn)精度為15nm和100nm。掃描的速度范圍為15nm-100um/s。
大掃描范圍
各方向掃描范圍為50mm。
雙恒電位儀實(shí)現(xiàn)全軟件控制
雙恒電位儀由Windows界面的POTPULSE軟件控制，實(shí)驗(yàn)設(shè)置與實(shí)驗(yàn)結(jié)果同時(shí)儲(chǔ)存便于進(jìn)一步分析。
低噪聲電流測(cè)試
對(duì)于亞微米尺度的探針，其表面通過(guò)的法拉第電流非常的小，這就對(duì)電流放大器的要求非常高。PG340型雙恒電位儀配備的低噪聲電流放大器通過(guò)特制的微電極支架與電極連接大大降低了電流噪聲，可檢測(cè)低至p*的電流。
開(kāi)路電位測(cè)試
真實(shí)開(kāi)路電位的測(cè)量通過(guò)滅活對(duì)電極實(shí)現(xiàn)，四電極模式下可測(cè)量探針和樣品的開(kāi)路電位。
電流和電位的記錄
掃描過(guò)程實(shí)時(shí)記錄探針和樣品的電流和電位。

主要特點(diǎn)：