Labthink蘭光 CHY-C2A薄膜厚度測(cè)試儀 概述：
Labthink蘭光 CHY-C2A薄膜厚度測(cè)量?jī)x采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，側(cè)頭自動(dòng)升降，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量，數(shù)據(jù)可同時(shí)顯示自動(dòng)打印。
Labthink蘭光 CHY-C2A薄膜厚度測(cè)試儀 技術(shù)指標(biāo)：
指標(biāo) | 參數(shù) |
負(fù)荷量程 | 0 ～ 2 mm（常規(guī)） |
0 ～ 6 mm；12 mm （可選） |
分辨率 | 0.1 μm |
測(cè)量速度 | 10 次/min （可調(diào)） |
測(cè)量壓力 | 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張） |
接觸面積 | 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張），注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制 |
電源 | AC 220V 50Hz |
外形尺寸 | 461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H) |
凈重 | 32 kg |
Labthink蘭光 CHY-C2A薄膜厚度測(cè)試儀 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
該設(shè)備滿足多項(xiàng)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
Labthink蘭光 CHY-C2A薄膜厚度測(cè)試儀 測(cè)試應(yīng)用：
基礎(chǔ)應(yīng)用 | 薄膜、薄片、隔膜 |
紙張、紙板 |
箔片、硅片 |
金屬片 |
紡織材料 |
固體電絕緣體 |
無紡布材料，如尿不濕、衛(wèi)生巾片材等 |
擴(kuò)展應(yīng)用
（需特殊附件或改制） | 量程擴(kuò)展至5mm，10mm，適用于測(cè)試薄膜、片材的厚度 |
曲面測(cè)量頭，滿足特殊場(chǎng)合的厚度測(cè)試 |
Labthink蘭光 CHY-C2A薄膜厚度測(cè)試儀 產(chǎn)品特點(diǎn)：
● 嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制；
● 測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差；
● 支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇；
● 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷；
● 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)*性；
● 系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果；
● 系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看；
● 標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸；
● 支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告。
Labthink蘭光 CHY-C2A薄膜厚度測(cè)試儀 產(chǎn)品配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選購(gòu)件：專業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)
