“ 美國ISS——*的同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案！

簡介︰

“ 美國ISS——*的同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案！”市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法，兩者在本質(zhì)上是相通的，測量精度相近，頻域技術(shù)是時域法的傅里葉變換的延伸。時域和頻域技術(shù)在各種顯微壽命成像平臺中都有應(yīng)用，時間相關(guān)單光子計數(shù)方法（TCSPC )是為常見的時域技術(shù)，而新興的數(shù)字頻域技術(shù)（FastFLIM™ )則取代了傳統(tǒng)的模擬頻域技術(shù)，憑借其獨恃的優(yōu)勢成為應(yīng)用廣的頻域技術(shù)。

產(chǎn)品概述和特點

FastFLIM基本原理

利用脈沖光源代替調(diào)制光源對樣品進行激發(fā)；發(fā)射光子通過光子計數(shù)檢測器接收，不對檢測器進行調(diào)制，而是通過FastFLIM對接收的光子信號進行數(shù)字轉(zhuǎn)換并記錄到代表不同相位的采樣窗口，其采樣頻率fs由FastFLIM根據(jù)激發(fā)頻率fex而生成，兩者的差值稱為互相關(guān)頻率fcc，其倒數(shù)（1/fcc）正是相位采樣的時間窗口；通過對接收光子的累積而生成相位直方圖（cross correlation phase histogram）；通過對相位直方圖的數(shù)字傅里葉變換處理可以得到在激光重復(fù)頻率及多個倍頻下的相位延遲（φ）和振幅解調(diào)（m），用于單指數(shù)或多指數(shù)的熒光壽命分析。

FastFLIM的*優(yōu)勢

Ø高效快速的數(shù)據(jù)采集模式（* duty cycle）,幾乎無死亡時間;

Ø光子計數(shù)動態(tài)范圍大，線性度高，數(shù)據(jù)采集率可達(dá)每秒計數(shù)6x107；

Ø提供四個數(shù)據(jù)輸入通道，同時對四個檢測器進行并行數(shù)據(jù)采集； 

Ø靈活度高，應(yīng)用范圍廣，100ps到100ms的無間斷壽命測量；

Ø可接入多種模式觸發(fā)信號與脈沖激光或其它測量設(shè)備同步；