《所發(fā)布的各款試驗設(shè)備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準(zhǔn)》
hast飽和老化測試箱可測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
技術(shù)優(yōu)勢：
1、采用全自動補(bǔ)充水位之功能,試驗不中斷、
2、試驗過程的溫度、濕度、壓力，是讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽
壓表計算出來的，能夠掌握實際的試驗過程。
3、干燥設(shè)計，試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥，確保穩(wěn)定性。
4、準(zhǔn)確的壓力/溫度對照顯示，*符合溫濕度壓力對照表要求。
性能：
1、測試環(huán)境條件4、2、測試方法環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、
2、溫度范圍105℃→+132℃、(控制點(diǎn))
3、溫度波動度±0、5℃、
4、溫度偏差±2、0℃、
5、濕度范圍75%～*R、H、(控制點(diǎn))
6、濕度波動度±2、5%R、H、
7、濕度均勻度±5、0%、
8、壓力范圍0、5～2㎏/㎝2(0、05～0、196MPa)(控制點(diǎn))
9、升溫時間常溫→+132℃35min、
10、升壓時間常壓→+2㎏/㎝240min
試樣限制本試驗設(shè)備禁止：
易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。
hast飽和老化測試箱用途：
適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性，氣密性。更多檢測儀器相關(guān)詳情請咨詢歐可儀器
