芯片PCT老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于線路板，多層線路板，IC，LCD，磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐厭性，氣密性。

　《所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》

　　芯片PCT老化試驗(yàn)箱材質(zhì)：

　　1.試驗(yàn)箱尺寸：PCT-45(∮400mmxL600mm)圓型試驗(yàn)箱

　　2.全機(jī)外尺寸：900x700x1600mm(W*D*H)立式

　　3.內(nèi)桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3163mm)

　　4.外桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)或選噴塑

　　5.保溫材質(zhì)：巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

　　6.蒸汽發(fā)室加熱管：鈦管加熱，不生銹。

　　芯片PCT老化試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：

　　1.采用臺制臺達(dá)彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(采用PT-100白金感溫體).

　　2.采用指針顯示壓力表.

　　3.微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.

　　4.手動入水閥(自動補(bǔ)水功能，可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)).

　　PCT老化試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

　　1.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件;

　　2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn);

　　3.MIL-STD810D方法502.2;

　　4.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn);

　　5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn);