iEDX-100T X射線熒光光譜分析設備、鍍層厚度測試儀
參考價 | ¥ 178000 |
訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 廣州鴻熙電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 iEDX-100T
- 所在地 廣州市
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2019/10/17 11:34:01
- 訪問次數 551
參考價 | ¥ 178000 |
訂貨量 | ≥1 件 |
X射線熒光光譜分析設備、鍍層厚度測試儀1.鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內。2.可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。3.運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。4.可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。5.操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測結果。
X射線熒光光譜分析設備、鍍層厚度測試儀
工作條件 | |
●工作溫度:15-30℃ | ●電源:AC: 110/220VAC 50-60Hz |
●相對濕度:<70%,無結露 | ●功率:150W + 550W |
產品優(yōu)勢及特征
X射線熒光光譜分析設備、鍍層厚度測試儀
(一)產品優(yōu)勢
(二)產品特征
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)。
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如:Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件。可一次性分析25種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。
X射線熒光光譜分析設備、鍍層厚度測試儀
產品配置及技術指標說明
u 測量原理:能量色散X射線分析 | u 樣品類型:固體/粉末 |
u X射線光管:50KV,1mA | u過濾器:多重濾光片自動轉換 |
u檢測系統(tǒng):SDD探測器(或Si-Pin) | u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV) |
u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92) | u準直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應用程序語言:韓/英/中 | u分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光 |
u儀器尺寸:450*520*385mm | u樣品腔尺寸:310*280*105mm |
1. X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時間>18,000小時)
微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序提供性能。
能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
初級濾光片:Al濾光片,自動切換
7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
5. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數自動顯示
6.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數:40X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
7. 計算機、打印機(贈送)
注:設備需要配備穩(wěn)壓器,需另計。
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