應(yīng)力雙折射測量儀WPA-200可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使其成為*的光學測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應(yīng)力分布。WPA-200型更是市場上的*機器，非常適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。

應(yīng)力雙折射測量儀WPA-200主要特點:

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

• 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

• 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

• 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。

• 維護簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學濾片的機構(gòu)。

• *高的殘余應(yīng)力測量設(shè)備。

應(yīng)力雙折射測量儀WPA-200主要應(yīng)用：

光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結(jié)晶鉆石）

有機材料（球晶、FishEve）

技術(shù)參數(shù)：

測量案例：