FISCHERSCOPE XAN222 x射線熒光測厚儀
XAN®系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測量和分析，該系列產(chǎn)品以其易用性和*的性價比而脫穎而出。 過濾器可以根據(jù)要求進(jìn)行調(diào)整，從而可以為每種材料成分提供理想的測量儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY儀器概述：

XAN®系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測量和分析，該系列產(chǎn)品以其易用性和*的性價比而脫穎而出。 過濾器可以根據(jù)要求進(jìn)行調(diào)整，從而可以為每種材料成分提供理想的測量儀器。所有FISCHERSCOPE X-RAY系統(tǒng)均具有出色的準(zhǔn)確性和長期穩(wěn)定性，大大減少了重新校準(zhǔn)的必要性，從而節(jié)省了時間和精力。FISCHER的基本參數(shù)方法可對固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)進(jìn)行分析，而無需校準(zhǔn)?，F(xiàn)代的硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度和良好的檢測靈敏度。

XAN 220和XAN 222設(shè)計為用戶友好的臺式儀器.XAN 222：手動操作XY工作臺，可精確定位小零件和較大的測量室。為了方便快速地進(jìn)行樣品定位，X射線源和半導(dǎo)體檢測器組件位于儀器的下腔室中。測量方向從樣品下面開始，并由透明窗口支撐。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域是：     • 珠寶，貴金屬和牙科合金     • 黃金和白金     • 鉑金和白銀     • 銠     • 合金和涂料     • 多層涂料

應(yīng)用：
鍍層厚度測量：
    • 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
    • 時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析
    • 抗磨損鍍層，如：對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測量
    • 測試納米級基礎(chǔ)金屬化層（凸點下金屬化層，UBM） 
材料分析：
    • 測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
    • 專業(yè)實驗室、檢測機構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析
    • 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）
    • 功能性鍍層的成分，如測定化學(xué)鎳中的磷含量