MEMSMap 510激光多普勒振動測量系統(tǒng)
我們使用的技術(shù)是用擴(kuò)展的激光束照射物體，并用內(nèi)置照相機(jī)成像。當(dāng)物體振動時，反射的激光也“振動”，物體位移相應(yīng)地調(diào)制激光。這可以在復(fù)合材料的表面振動、靜態(tài)變形和內(nèi)部缺陷的全場圖中檢測到。
基于激光的微結(jié)構(gòu)高頻、低振幅振動三維測量系統(tǒng)。
MEMSMap 510還可以測量靜態(tài)位移，它可以測量粗糙和光滑的表面，具有微米的空間分辨率。
通過使用長焦距物鏡，MEMSMap 510可以通過窗口和熱過濾器、鏡子以及液體介質(zhì)進(jìn)行測量。
•MEMS和NEMS •微結(jié)構(gòu) •傳感器
•振動模式分析•響應(yīng)譜•壓力傳感器•加速度計
•陀螺儀•碰撞傳感器•高溫測量•真空室測量
•熱偏轉(zhuǎn)測量•老化效應(yīng)分析
•汽車工業(yè)•傳感器工業(yè)•醫(yī)療工業(yè)•航空航天工業(yè)•電子工業(yè)•研發(fā)•產(chǎn)品測試
MEMSMap 510使用擴(kuò)展的激光束照亮目標(biāo)區(qū)域，同時通過顯微物鏡將目標(biāo)成像到CMOS傳感器陣列上。
對于平面外測量，使用內(nèi)部參考光束干擾目標(biāo)光。對于平面內(nèi)測量，兩束激光用于物體照明。
對于振動測量，系統(tǒng)計算機(jī)使用信號發(fā)生器驅(qū)動激勵裝置，目標(biāo)物體在一個頻率范圍內(nèi)被激勵。
振動振幅條紋可以實時顯示，同時采用*的記錄算法計算數(shù)值振幅和相位圖。
對于靜態(tài)撓度測量，光電管技術(shù)基于相移來記錄和計算被測物體的靜態(tài)撓度。
激光器類型：Nd：YAG/2
激光波長：532nm
CCD分辨率：1936*1216/CMOS
振幅分辨率(數(shù)字模式)：0.1nm
振幅分辨率(實時模式)~1nm
3D頻率范圍：0-240MHz
多普勒激光測振儀Memsmap 510以其測速精度高、測速范圍廣、動態(tài)響應(yīng)快、非接觸測量等優(yōu)點在航空航天、機(jī)械、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用和快速發(fā)展。多普勒激光測振儀Memsmap 510主要應(yīng)用多普勒效應(yīng)實現(xiàn)物體的振動測試，利用激光的非接觸測量可實現(xiàn)一些特殊環(huán)境下的測試，例如對微電子元件(MEMS)，機(jī)床高速旋轉(zhuǎn)軸的徑向跳動及軸向振動以及在高溫腐蝕環(huán)境下的測試，實現(xiàn)了傳統(tǒng)的接觸式傳感器在這些應(yīng)用領(lǐng)域的空白。
