BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度數(shù)字電機實現(xiàn)了*的轉(zhuǎn)速控制精度，通BI-DCP一樣，是具有統(tǒng)計意義的粒度儀中分辨率、準確度的納米/微米顆粒粒度測量儀器。XDC以X-射線為檢測光源，避免了對小顆粒樣品的消光校正，廣泛應用于陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制。

• 工作原理

  重力或者離心力使得懸浮在樣品轉(zhuǎn)盤腔內(nèi)的顆?？梢援a(chǎn)生沉降或離心運動。大顆粒運動較快，小顆粒運動較慢，隨著時間的增加，大小顆粒自然分級并依次通過靠近轉(zhuǎn)盤腔底內(nèi)部的檢測器，因而具有*的分辯率。
  

  應用價值

  1.精確分辨復雜體系的粒度分布從而提高流變性能和結(jié)構(gòu)特性的分析

  2.通過測量對原料進行監(jiān)控，避免由原料帶來的生產(chǎn)問題

  3.通過簡化步驟和減少測量時間來提高效率

  4.化材料特性從而提高產(chǎn)品性能

  5.研究體系粒度的基本構(gòu)成從而幫助新產(chǎn)品和生產(chǎn)工藝的開發(fā)
  

  
  

• 1. BI-XDC

  2. BI-DCP

• BI-XDC的設計精華：

  1. 高分辨率的測量方法，*測量實踐證明，基于Stokes公式的離心沉降理論仍然是分辨率、精度、準確度的測量方法，BI-DCP/BI-XDC能夠區(qū)分峰值間隔13％的樣品。

  2. 準確可靠的數(shù)字式頻率電機，轉(zhuǎn)速精度達0.01%，是一般模擬電機精度的100倍，配以高精度的掃描檢測器，從根本上保證了測量結(jié)果的可靠性。

  3. 快速的掃描檢測器，逆向于顆粒運動方向勻速運動，大大節(jié)約了檢測時間，標準的離心檢測時間僅為5-8分鐘。

  4. 傳感器對圓盤中的溫度進行實時監(jiān)控。

  5. 實用方便的分段監(jiān)測功能：對于寬分布樣品可兩次檢測不同粒級，后通過軟件歸一，大大提高了檢測效率和檢測范圍。

  6. 功能完善的軟件：

  1) 用戶可預先通過軟件，模擬選擇實驗條件。

  2) 檢測中可實時跟蹤原始物理信號，確保全部信息的準確。

  3) 分段測量結(jié)果擬合簡便而實用。

  4) 計算結(jié)果列表與圖形選擇輸出。

  
  

  
  

• 1.PS、PVC及其它聚合物

  2.炭黑

  3.金屬氧化物、金屬粉末

  4.油墨、氧化鋁、氧化鈦

  5.制藥、化妝品、食品、粘合劑

  6.涂料、無機染料

  7.陶瓷、粘土、礦物

  
  

• 1.進樣方式：均相進樣（HOST模式）探頭掃描速度：0.05～10mm/min

  2.檢測光源：X射線

  3.操作模式：重力沉降模式與離心沉降模式

  4.粒度范圍：0.01～100um（與粘度、密度有關）

  5.數(shù)據(jù)庫：無需消光校正

  6.精度：2％

  7.重復性：1％

  8.旋轉(zhuǎn)盤材料：標準PMMA或特殊抗腐蝕盤

  9.電機轉(zhuǎn)速：500～6000rpm，10000rpm可選

  10.轉(zhuǎn)速精度：0.01%

  
  

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  • BI-DSC：標準旋轉(zhuǎn)盤

  • BI-DSCR：耐腐蝕旋轉(zhuǎn)盤