SOC-200 是一款高精度科研級(jí)BRDF測(cè)量系統(tǒng)，可以從可見(jiàn)到中紅外波譜范圍內(nèi)全自動(dòng)測(cè)量樣品的BRDF，實(shí)現(xiàn)光學(xué)表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數(shù)（BRDF）制圖。BRDF 數(shù)據(jù)可以提供研究材料光學(xué)性能所必須的方向反射信息，如表面能量散射的方向和強(qiáng)度。

主要特點(diǎn)：

n 光譜范圍：0.35~14μm（基于檢測(cè)器選項(xiàng)）

n 測(cè)量本底噪聲：<10-3sr-1

n 可水平裝置粉末和液體樣品進(jìn)行測(cè)量

n 重復(fù)性：＜本底噪聲的5％

n 全自動(dòng)測(cè)量四個(gè)角坐標(biāo) （Θ and Φ、入射及反射角）

n 集成電控單元，用于快速處理、顯示和存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

n 自動(dòng)帶通濾光輪，一次性測(cè)量十二種多光譜通道。

n 支持斯特林循環(huán)冷卻的MCT和InSb檢測(cè)器，可以無(wú)人值守地全自動(dòng)數(shù)據(jù)采集，自動(dòng)切換標(biāo)樣樣品測(cè)量

測(cè)量指標(biāo)：

n 全半球雙向反射分布函數(shù)（BRDF）

     非偏振BRDF

     線性偏振BRDF

n 雙向透射分布函數(shù)（BTDF）

應(yīng)用領(lǐng)域：

n 航空工業(yè)

n 國(guó)防

n 航天

n 行星探測(cè)

n 涂層領(lǐng)域

n 光學(xué)材料質(zhì)量控制

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)地：美國(guó)