激光芯片開封機 GLOBAL ETCH II的工作原理是利用高能激光蝕刻掉芯片或者電子元器件的塑封外殼，從而光學觀測或者電氣性能測試提供了可能性，以便于實現X射線等無損檢測無法實現的功能。

激光芯片開封機 GLOBAL ETCH II

激光芯片開封機 GLOBAL ETCH II基本原理：

封外殼，從而光學觀測或者電氣性能測試提供了可能性，以便于實現X射線等無損檢測無法實現的功能。
激光開封技術也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下，去除局部的塑封材料，進行測試甚至修復實驗。與化學開封技術相比，激光開封更加高效，同時避免了減少強酸環(huán)境暴露。

應用領域：
去除半導體芯片的塑封外殼，PCB板截面切割，以及其它類似的破壞性物理試驗或失效分析場景。

產品優(yōu)勢：

• 來自德國的高精密激光掃描頭（SCANLAB）

• 激光脈沖寬度可調（1ns-250ns）

• 激光系統(tǒng)與CCD視覺系統(tǒng)同軸共焦，實時觀測激光掃描過程

• 可直接導入X-Ray或者超聲波掃描圖像，為復雜定點開封提供支持

• 強大的軟件功能，保證了定位、區(qū)域標定、聚焦、參數設定、條碼繪制等功能得以簡潔可靠地實現

• 高性能煙塵過濾系統(tǒng)，自動震動防堵，可過濾98%以上0.3um直徑的環(huán)氧樹脂顆粒