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超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 日立高新技術(shù)（上海）國際貿(mào)易有限公司北京分公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2021/2/26 21:23:14
訪問次數(shù) 406

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2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像，而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。SU7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了信息獲取量大化的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。接下來請(qǐng)欣賞SU7000帶來的多*。*左圖為包含選配項(xiàng)的SU7000示意圖

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超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000

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超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000

SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像，而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。

SU7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了信息獲取量大化的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。

接下來請(qǐng)欣賞SU7000帶來的多*。

*: 左圖為包含選配項(xiàng)的SU7000示意圖

特點(diǎn)
規(guī)格
安裝布局

特點(diǎn)

核心理念

采用優(yōu)異的成像技術(shù)
SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細(xì)結(jié)構(gòu)等多種檢測(cè)信號(hào)。全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和檢的樣品。大開倉設(shè)計(jì)，標(biāo)配18個(gè)附件接口。樣品臺(tái)可搭載XY軸大移動(dòng)距離為135×100 mm，重2 kg的樣品。搭載大型樣品和功能樣品臺(tái)*不成問題。
相機(jī)導(dǎo)航功能^(*)
通過相機(jī)拍攝樣品
　　　　　　將相機(jī)拍攝到的圖像顯示到SEM MAP畫面上進(jìn)行導(dǎo)航
SU7000可選配導(dǎo)航相機(jī)^(*)，迅速鎖定要觀察的位置。相機(jī)安裝在樣品倉內(nèi)，插入樣品后，可半自動(dòng)拍攝樣品的整體圖像。該圖像會(huì)被顯示到導(dǎo)航畫面（SEM MAP）窗口，因此，用戶可以觀察窗口中的圖像判斷位置。大適用尺寸為φ 100 mm。
(*)
可選配相機(jī)。
支持動(dòng)態(tài)觀察的檢測(cè)系統(tǒng)
SU7000可用于環(huán)境改變的動(dòng)態(tài)觀察。低真空觀察時(shí)，可以選用PD-BSED（背散射電子探測(cè)器）、UVD、MD等各種探測(cè)器^(**)。
低真空環(huán)境的探測(cè)器選擇
左圖為通過MD（背散射電子），右圖為通過UVD（二次電子）探測(cè)器觀察到的金屬氧化物纖維的情況。兩張圖分別清晰地呈現(xiàn)出氧化物的分散狀態(tài)和纖維的堆積情況。
PD-BSED：響應(yīng)速度提高
左圖是以一般的響應(yīng)速度，約每?jī)擅霋呙枰淮蔚玫降膱D像；右圖抑制了圖像的漂移，使得整體的畫質(zhì)得到了大幅提升。隨著響應(yīng)速度的提高，更適用于In-Situ觀察。
(**)
可選配PD-BSED、UVD。

規(guī)格

項(xiàng)目			內(nèi)容
圖像分辨率	二次電子分辨率		0.8 nm/15 kV
圖像分辨率	二次電子分辨率		0.9 nm/1 kV
放大倍率			20～2,000,000 x
電子槍	發(fā)射體		ZrO/W熱場(chǎng)發(fā)射（肖特基熱場(chǎng)發(fā)射）
	加速電壓		0.1～30 kV （步進(jìn)：0.01 kV）
	束流		大200 nA
探測(cè)器	標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器		UD （上探測(cè)器)
			MD （中探測(cè)器）
			LD （下探測(cè)器)
	選配探測(cè)器^*1		PD-BSED (半導(dǎo)體式背散射電子探測(cè)器）
	選配探測(cè)器^*1		UVD（高靈敏度低真空探測(cè)器）
低真空模式^*1	樣品倉壓力范圍		5～300 Pa
低真空模式^*1	可使用探測(cè)器		PD-BSED, UVD, UD, MD, LD
馬達(dá)臺(tái)	馬達(dá)臺(tái)控制		5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)
	移動(dòng)范圍	X	0～135 mm
		Y	0～100 mm
		Z（WD）	1.5～40 mm
		T（傾斜角）	-5～70°
		R（旋轉(zhuǎn)角）	360°
	樣品尺寸		大直徑：φ200 mm, 大高度：80 mm
顯示器^*1			23英寸LCD （1,920×1,080）, 支持雙屏
圖像顯示模式	全屏顯示模式		1,280×960像素顯示
	單屏顯示模式		800×600像素顯示
	雙屏顯示模式		800×600像素顯示、1,280×960像素顯示 ^*2
	四屏顯示模式		640×480像素顯示
	六屏顯示模式^*2		640×480像素顯示 ^*2
圖像數(shù)據(jù)保存	保存圖像尺寸		640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840、10,240×7,680
選配附件			能譜儀（EDX）
			X射線波譜儀（WDX）
			電子背散射衍射（EBSD）
			陰極熒光探測(cè)器（CL)
			冷凍傳輸系統(tǒng)
			各種功能樣品臺(tái)

*1: 為選配項(xiàng)。
*2: 支持雙屏顯示。