日本electron陰極發(fā)光探測器
將檢測器作為附件添加到您的SEM
檢測器是根據(jù)您的SEM制造的
與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫。
礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇

日本electron電子束三維測量儀SDM-7501Ⅱ

日本electron電子束三維測量儀SDM-7501Ⅱ

日本electron電子束三維測量儀SDM-7501Ⅱ

特征 將檢測器作為附件添加到您的SEM 檢測器是根據(jù)您的SEM制造的 與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫。 礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇   基本規(guī)格：CL檢測器 探測器 光電倍增器 波長范圍 400-600納米 SED / CLD 開關(guān)盒     特征 將檢測器作為附件添加到您的SEM 檢測器是根據(jù)您的SEM制造的 與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫。 礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇   基本規(guī)格：CL檢測器 探測器 光電倍增器 波長范圍 400-600納米 SED / CLD 開關(guān)盒     特征 將檢測器作為附件添加到您的SEM 檢測器是根據(jù)您的SEM制造的 與DIGI CAPTURE SUP-7707結(jié)合使用，可以數(shù)字化獲取的圖像并創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫。 礦產(chǎn)資源和地質(zhì)研究以及半導(dǎo)體研究的理想選擇   基本規(guī)格：CL檢測器 探測器 光電倍增器 波長范圍 400-600納米 SED / CLD 開關(guān)盒