高低溫環(huán)境試驗設(shè)備可以作為模擬環(huán)境試驗用,也可以作為環(huán)境實驗用,所以也可稱為環(huán)境實驗箱。是利用人類高科技的手段模擬出地球任意地方可接觸到的自然界環(huán)境氣候溫度并對現(xiàn)代工業(yè)產(chǎn)品及材料所造成的溫度破壞性提前試驗。
高低溫環(huán)境試驗設(shè)備主要技術(shù)指標:
1 、溫度波動度:±0.5℃
2 、溫度偏差:≤2℃
3 、升降溫速率:0.7~1℃/min
4 、溫度范圍:A:0℃、B:-20℃、C-40℃、D-70℃~+150℃
5 、試驗箱容積有80升:(寬40x高50x深40cm);150升:(寬50x高60x深50cm);225升:(寬50x高75x深60cm);408升:(寬60x高85x深80cm);800升:(寬100x高100x深80cm);1000升:(寬100x高100x深100cm);寬高深相乘等于容積,以上是每個容積對應(yīng)的寬高深,都是標準常做的試驗箱規(guī)格,大家可以選擇其中一個尺寸然后配一個合適的溫度范圍,也可把非標的尺寸告訴我司技術(shù)員為大家量產(chǎn)品而定制。
6 、標準升溫時間 : +20℃~+150℃小于45分鐘非線性空載。
7 、標準降溫時間: +20~-20℃小于45分鐘/+20~-40℃小于60分鐘/ +20~-50℃小于65分鐘. +20~-60℃小于70分鐘/+20~-70℃小于75分鐘/+20~-85℃小于100分鐘非線性空載.
8 、滿足及執(zhí)行標準:GB2423.1—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗A:低溫試驗方法;GB2423.2—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗B:高溫試驗方法。
9 、用途:常用于試驗電子、電器、車輛、通訊、儀表、金屬、塑膠制品、食品、化學(xué)、建材等各種工業(yè)材料做耐熱、耐寒、耐干、耐高低溫性能試驗、實驗或者測試
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