1)精煉的全新設(shè)計(jì):在提高機(jī)械和電氣穩(wěn)定性的同時(shí),憑借對(duì)透射電鏡的豐富經(jīng)驗(yàn),對(duì)電鏡整體進(jìn)行了精煉全新設(shè)計(jì),力求為用戶提供全新感受;
2) 四級(jí)聚光鏡設(shè)計(jì):為了*大程度發(fā)揮出STEM功能,JEM-F200進(jìn)行了全新概念的四級(jí)聚光鏡設(shè)計(jì),亮度和匯聚角可以分別控制;
3)優(yōu)異掃描系統(tǒng):在照明系統(tǒng)掃描功能之上又增加了成像系統(tǒng)的掃描功能(選購(gòu)件)可以獲得大范圍的STEM-EELS;
4)皮米樣品臺(tái)控制:標(biāo)配的壓電陶瓷控制樣品臺(tái),可以在原子尺度上獲得精準(zhǔn)的移動(dòng);
5)全自動(dòng)裝樣測(cè)角臺(tái)(SPECPORTER):樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動(dòng)實(shí)現(xiàn),彰顯其便利性及安全性;
6)成熟的冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù):將JEOL應(yīng)用在球差校正技術(shù)上的優(yōu)異冷場(chǎng)發(fā)射技術(shù)移植到普通的場(chǎng)發(fā)射透射上,可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析;
7)雙超級(jí)能譜設(shè)計(jì):可安裝雙超級(jí)能譜,將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度;
8)節(jié)能減排:?jiǎn)⒂檬‰娔J胶碾娏拷档?0%。