XRF光譜測(cè)試儀廠供ROHS環(huán)保檢測(cè)分析儀 鹵素
創(chuàng)始人是原清華大學(xué)核物理研究院劉博士，他掌握了光譜、質(zhì)譜、色譜三大核心技術(shù)，對(duì)產(chǎn)品要求精益求精，把儀器的精準(zhǔn)度管制在99.99%，檢出限可達(dá)1ppm，重復(fù)穩(wěn)定性達(dá)到0.1%以內(nèi)，在同行相比天瑞技術(shù)較*。

XRF光譜測(cè)試儀廠供ROHS環(huán)保檢測(cè)分析儀 鹵素    XRF光譜測(cè)試儀廠供ROHS環(huán)保檢測(cè)分析儀 鹵素

ROHS檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)之一是分析速度快，通常只需200秒就可以完成元素的分析測(cè)試。比其他分析儀器時(shí)間都短。

 優(yōu)點(diǎn)二：熒光分析譜圖跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)。

 優(yōu)點(diǎn)三：非破壞分析在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

 優(yōu)點(diǎn)四： X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析.

 優(yōu)點(diǎn)五：分析精密度高。

 優(yōu)點(diǎn)六：制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

有那么多應(yīng)用優(yōu)勢(shì)，同樣XRF-X射線熒光光譜儀也有它的應(yīng)用缺陷，主要有三個(gè)方面：

  1，難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣.

  2，對(duì)輕元素硫(S)、磷(P)、硅(Si)、鎂(Mg)、鈉(Na)等元素的靈敏度要低一些.

  3，容易受鄰近元素的相互干擾和疊加峰影響。

不過，即便有這些缺點(diǎn)，XRF檢測(cè)儀仍然是中小企業(yè)的可以選擇，它不像常規(guī)化學(xué)儀器那樣需要專業(yè)的操作人員和前處理設(shè)施，大大節(jié)省了分析成本，提升了檢測(cè)效率。推薦天瑞儀器的精品XRF檢測(cè)設(shè)備EDX1800型號(hào)：