高壓加速老化測(cè)試（PCT）是一個(gè)能產(chǎn)生溫度、百分之100濕度、以及壓力的試驗(yàn)箱，廣泛用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等。pct試驗(yàn)箱目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

高壓加速老化測(cè)試（PCT）是一個(gè)能產(chǎn)生溫度、百分之100濕度、以及壓力的試驗(yàn)箱，廣泛用于線路板、多層線路板、IC、LCD、磁鐵等。pct試驗(yàn)箱目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

測(cè)試的目的：

測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見(jiàn)的故障原因：爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。

瑞凱儀器PCT試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)：RK-PCT-350

內(nèi)箱尺寸 （Φ*D）：300*450

外箱尺寸 （W*H*D）：650*1200*950

溫度范圍：110℃～147℃（飽和蒸汽溫度）

濕度范圍：100R.H（飽和蒸汽濕度）

壓力范圍：0.2～3.0kg/cm2（0.05~0.294MPa）

溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

溫度均勻度：≤±0.5℃

加壓時(shí)間：約45min

解析度：溫度：0.01℃，濕度：0.1R.H，壓力：0.1kg/cm2，電壓：0.01DCV