掃描探針顯微系統(tǒng)（超高速原子力顯微鏡）Dimension Icon的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及材料領(lǐng)域的納米研究中將會(huì)得到廣泛應(yīng)用。Dimension Icon是Dimension系列產(chǎn)品中的最新款設(shè)備,它基于世界上應(yīng)用廣泛的AFM平臺(tái)，集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)的應(yīng)用定制及客戶(hù)反饋等于一身。
儀器簡(jiǎn)介：
掃描探針顯微系統(tǒng)（超高速原子力顯微鏡）Dimension Icon
掃描探針顯微系統(tǒng)（超高速原子力顯微鏡）Dimension Icon的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及材料領(lǐng)域的納米研究中將會(huì)得到廣泛應(yīng)用。Dimension Icon是Dimension系列產(chǎn)品中的最新款設(shè)備,它基于世界上應(yīng)用廣泛的AFM平臺(tái)，集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)的應(yīng)用定制及客戶(hù)反饋等于一身。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)從上到下的設(shè)計(jì)，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
技術(shù)參數(shù)：
X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，最小85um
Z方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；最小9.5um
垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬（達(dá)到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：<0.15nm RMS，典型成像帶寬（達(dá)到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：<0.10nm RMS，典型成像帶寬（達(dá)到625Hz）
Z傳感器噪音水平（閉環(huán)）：<35pm RMS, 典型成像帶寬（達(dá)到625Hz）
整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值
樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤(pán)樣品臺(tái)，直徑210mm, 厚度15mm
電動(dòng)定位樣品臺(tái)（X-Y軸）：180mm*180mm可視區(qū)域；單向2um重復(fù)性；雙向3um重復(fù)性。
顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)：五百萬(wàn)像素?cái)?shù)字照相機(jī)
180um至1465um可視范圍
數(shù)字縮放及自動(dòng)對(duì)焦功能
控制器：NanoScope V型控制器
工作臺(tái)：整合所有控制器、結(jié)合人體工學(xué)設(shè)計(jì)，提供直接的物理或可視借口
震動(dòng)隔絕：整體式氣動(dòng)減震臺(tái)
聲音隔絕：可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音
主要特點(diǎn)：
結(jié)合Veeco最新的針尖-掃描AFM技術(shù)，Icon的溫度補(bǔ)償定位傳感器使Z軸的的噪音水平達(dá)到亞-埃米級(jí)，X-Y方向達(dá)埃米級(jí)。在大樣品臺(tái)、90微米掃描范圍系統(tǒng)的儀器當(dāng)中，這種表現(xiàn)是非常突出的，優(yōu)于絕大部分的開(kāi)環(huán)、高分辨率AFM系統(tǒng)的噪音水平。
Icon不僅具有非常好的分辨率，它還具備許多新的特性，以增加新老AFM用戶(hù)操作儀器的便捷性及出圖像速率：
• 設(shè)計(jì)的掃描管，實(shí)現(xiàn)閉環(huán)掃描功能同時(shí)，具有開(kāi)環(huán)掃描管的噪音水平，在大樣品AFM系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)的分辨率
• 全新設(shè)計(jì)的XYZ閉環(huán)掃描管，在不影響圖像質(zhì)量下具有非常高的掃描速度，具有非?？斓臄?shù)據(jù)采集能力
• 最新的NanoScope軟件版本，提供直觀的操作流程及默認(rèn)實(shí)驗(yàn)?zāi)K，將復(fù)雜的AFM操作流程轉(zhuǎn)化為預(yù)先設(shè)置
• 高分辨率的照相機(jī)及X-Y定位，實(shí)現(xiàn)更迅速、更有效的樣品定位
• *開(kāi)放的針尖及樣品環(huán)境，適用于絕大部分的標(biāo)準(zhǔn)或定制實(shí)驗(yàn)
• 硬件及軟件設(shè)置適用Veeco現(xiàn)有的及即將推出的所有模式及技術(shù)，包括現(xiàn)有的先進(jìn)的HarmoniX納米材料性能成像模式
