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KIF-PU 激光干涉儀

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 上海玖縱精密儀器有限公司
品牌
型號 KIF-PU
所在地 上海市
廠商性質(zhì) 代理商
更新時間 2015/12/22 16:00:00
訪問次數(shù) 682

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特價說明：

促銷詳細：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價促銷

模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

---：韓光兵
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竭誠歡迎廣大新老客戶前來咨詢洽談?wù)?，本公司將以zui熱忱的服務(wù)和*惠的價格回饋大家.

詳細信息在線詢價

---：韓光兵
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光學測量裝置

KIF-PU

KIF-PU是一款用于分析光學元件的透射波像差的干涉儀。該系統(tǒng)尤其適用于在光學拾波器生產(chǎn)線上評估物鏡或準直透鏡。

概覽
技術(shù)規(guī)格
軟件
PDF版產(chǎn)品信息

無需選擇操作員即可進行穩(wěn)定的測定
配備了標準的壓電驅(qū)動載物臺的自動調(diào)整構(gòu)造以及軟件，降低了調(diào)整誤差所導致的測定值的變動。該功能在高N.A.光讀取頭鏡片的透過波面測定中發(fā)揮威力。
可以測定405 nm帶·650 nm帶鏡片
標準裝載了405 nm和658 nm兩種波長的光源，可通過簡單的操作切換測定波長，可對任一方的光學元件進行評價。
可進行直線／圓偏光切換
測定在讀取頭光學元件中使用的具有偏光依存性的被檢物時，需要進行直線／圓偏光切換。進行塑料及晶體等具有復折射特性的元件的透過波面測定。
小型·高剛性
小型且高剛性的機身，充分考慮到生產(chǎn)現(xiàn)場的使用環(huán)境，所以不占空間即可進行快速質(zhì)量檢查。
可進行合格判斷
在的軟件中，通過可任意設(shè)置的規(guī)格值和合格判斷設(shè)置功能，能夠在生產(chǎn)線中輕松進行合格判斷。

透過波面測定干涉儀 KIF-PU：規(guī)格
測定波長	405 nm、658 nm（2級激光產(chǎn)品）
干涉方式	Twyman-Green（泰曼-格林）
測定光束徑	ø6mm
偏光規(guī)格	圓?直線切換
倍率	1×、3×（數(shù)碼倍率切換）
反射球面N.A.	0.85
焦點	有
調(diào)整	有
遙控調(diào)節(jié)	標準裝備
解析方式	條紋掃描方式
裝置重量	機身：約22 kg（電腦除外）
裝置尺寸	機身：330（W）×465（D）×460（H）mm
電源規(guī)格	100～240 V AC 50～60 Hz、100 VA
使用環(huán)境	水平且無振動的地方（地面振動±0.8 m/s²以下）溫度：23±3 °C 濕度：60％以下、無結(jié)露

* 本裝置不保證溯源體系中的精度。

特長

1.解析結(jié)果顯示功能

?P-V、RMS、Pwr
?賽德爾像差（傾斜、焦點、AS、彗差、球面像差）
?Zernike系數(shù)（3、4、9、16、25、36項）
?3維鳥瞰圖、2維彩圖
?橫切面?zhèn)让嫦瘢╔、Y方向、PV、RMS）
?合格判斷結(jié)果

2.文件輸入輸出功能

?工作參數(shù)的保存和讀取
?條紋數(shù)據(jù)的保存和讀取
?影面數(shù)據(jù)的保存和讀取
?畫面版面的保存和讀取
?主窗口打印

3.影面功能

?影面設(shè)定（四角形、圓形、多角形、自動影面）

?自動影面設(shè)定

4.工作參數(shù)設(shè)定功能

?產(chǎn)品名、單元名、注釋
?波長（405/658）
?修整次數(shù)（3/4/9/16/25/36）
?像差清除（像差／Zernike系數(shù)）
?顯示單位（λ、μm、nm、條紋）
?對Zernike系數(shù)的offset設(shè)定 ?規(guī)格值（各像差以及用戶定義式）