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KIF-FSA 干涉條紋解析軟件

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

該廠商其他產(chǎn)品

我也要出現(xiàn)在這里

安裝在KIF-202/KIF-402系列干涉儀上,通過條紋掃描方式取得被測物的波面相位并顯示且保存測定結(jié)果的干涉條紋解析系統(tǒng)。用于*以及生產(chǎn)現(xiàn)場中對平面以及球面的面精度進行定量評價。

詳細信息 在線詢價

省空間
采用我社開發(fā)的壓電控制器和筆記本電腦,大大節(jié)省了空間。

測定速度的提升
改善了圖像數(shù)據(jù)的讀取以及解析算法,加快了測定的速度。

可自動校準
配上3軸壓電受臺(選件),可實現(xiàn)干涉儀條紋設(shè)為0條紋的校準作業(yè)的自動化,可提高作業(yè)效率(球面測定時)。

解析軟件的高機能化
更新為以自動校準機能為中心的解析軟件,可對應(yīng)更精細的需求。

數(shù)碼變焦機能
用數(shù)碼變焦可在1倍到3倍以每0.1的倍率設(shè)定,微小機件的確認也變得簡單了。

2D、3D彩色圖像顯示
通過2D彩圖的顯示可確認波面相位以及橫切面的形狀。3D圖像更能直觀地顯示波面的相位。

合格與否的判定機能
設(shè)定規(guī)格值,在生產(chǎn)線上可簡單地進行合格與否的判定。而且可設(shè)定與客戶定義像差相對應(yīng)的規(guī)格值。

可定制畫面
具有保存、讀取畫面排版狀態(tài)的機能,可設(shè)定適合使用場所以及產(chǎn)品的排版。

主要用途:
· 評價鏡片、平面光學部品研磨面的面精度
· 評價鏡片、平面光學部品透過波面的定量
· 評價反射鏡、硬盤、晶片、磁頭等金屬面的面精度評價 

規(guī)格 

解析方式 條紋掃描方式
測定條紋條件 正弦波狀強度分布的干涉條紋
(不可進行多重干涉的干涉條紋解析)
干涉條紋顯示圖像尺寸 640×470(像素)
再現(xiàn)性 PV值:0.01λ(2δ)以下、
RMS值:0.003λ(2δ)以下
解析機能 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3以及Zernike系數(shù)的解析與顯示
合格與否的判定 PV、Rms、Pwr、As、Coma、Sa3等的規(guī)格值設(shè)定與合格與否的顯示
3軸壓電受臺沖程(選件) 粗動:±3mm(XYZ的各軸)
微動:12μm(XYZ的各軸)
使用環(huán)境 水平無震動的場所
(地面震動±0.8/S2)以下
溫度:23± 3℃
濕度:60%以下,無凝露

· 因測定時的設(shè)置環(huán)境不同,會發(fā)生機械性能不能充分發(fā)揮的時候,敬請原諒!
· 本裝置不保證Traceability體系中的精度。 

主畫面
解析結(jié)果以2維圖表以及3維鳥瞰圖表示。在2維圖表中可顯示橫切面的形狀。而且各像差以及Zernike系數(shù)將以數(shù)值形式顯示。如有設(shè)定規(guī)格值時,將會顯示柱型統(tǒng)計圖以及合格與否(○/×)??稍诓藛沃羞M行各種設(shè)定、數(shù)據(jù)的保存以及讀取。
<解析結(jié)果顯示技能>
· P-V、RMS、Pwr
· 賽德爾像差Tilt、Focus、像差A(yù)S、慧差Coma、球差Sa3
· 3維鳥瞰圖、2維彩圖
· 橫切面?zhèn)让嫦瘢╔、Y方向、PV、RMS)
· 合格與否判定結(jié)果
<文件輸入輸出機能>
· 工作參數(shù)的保存與讀取
· 條紋數(shù)據(jù)的保存與讀取
· 測定區(qū)域的保存和讀取
· 畫面版面的保存與讀取
· 主窗口打印

測定結(jié)果保存
測定結(jié)果可作為條紋數(shù)據(jù)保存于文檔中。且左右畫面可作為文本形式復(fù)制至剪貼板,可粘貼到表計算軟件。

測量區(qū)域設(shè)定畫面
可同時設(shè)定四角形、圓形、多角形的多個測量區(qū)域。在不進行特殊形狀設(shè)定時,亦可令程序按百分比自動圈劃區(qū)域。
<測量區(qū)域機能>
· 特殊形狀區(qū)域設(shè)定(四角形、圓形、多角形、自動圈劃區(qū)域)
· 自動圈劃設(shè)定

工作參數(shù)設(shè)定畫面
可設(shè)定產(chǎn)品名等的屬性,波長選擇、Fitting次數(shù)選擇、像差清除設(shè)定、表示單位選擇、對Zernike系數(shù)的offset的設(shè)定、規(guī)格值設(shè)定、用戶定義像差設(shè)定等的設(shè)定。
<工作參數(shù)設(shè)定機能>
· 產(chǎn)品名、單位名、注釋
· Fitting次數(shù)(3/4/9/16/25/36)
· 像差清除(像差/Zernike系數(shù))
· 顯示單位(λ、μm、nm、條紋)
· 對Zernike系數(shù)的offset設(shè)定
· 規(guī)格值(各像差以及用戶定義式)


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