角分辨散射儀昊量光電新推出用于準確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學(xué)產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障

角分辨散射儀

昊量光電新推出用于準確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學(xué)產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障。這種角分辨散射測量儀能夠能夠測量二維或三維雙向散射分布函數(shù)(BSDF)，包括雙向反射分布函數(shù)BRDF, 雙向透射分布函數(shù)BTDF,透射，反射，散射等。

1. 手持式散射儀

   
   

   MicroScan (μScan™)散射計是一種手持式散射計，提供了一個快速，非破壞性的方式檢測表面粗糙度和光學(xué)特性?？捎糜阽R面、各種反射鏡及精密加工表面檢測。它可以在實驗室、現(xiàn)場和制造環(huán)境中使用。一個常見的用途是就地檢測難以移動的大型表面(如望遠鏡反射鏡)。另一個是在制造車間對大型板材產(chǎn)品(軋制金屬、鍍膜玻璃等)進行表面光潔度檢驗。

2. 臺式高速角分辨散射儀

   
   

   可編程掃描允許對反射或透射半球進行采樣，距離鏡面光束小于5度，小于0.6度(帶有光束輪廓器選項)。標準型號包含一個635 nm的光源，其它波長可選，如：473nm,532nm,635nm和980 nm。動態(tài)范圍超過10個數(shù)量級，噪聲下限約為10-6/sr。這款臺式角分辨散射儀能夠測量大多數(shù)光學(xué)元件，但不能測量拋光硅片。蕞大入射角75度，全半球掃描根據(jù)掃描分辨率不同在5-30秒內(nèi)完成。

3. 半球散射測量儀

   
   

   TSW TASC™半球散射計使用激光或?qū)拵г磫紊鞯墓猓鳛榉墙佑|式探頭來測量來自各種材料的散射光，包括液體和粉末。偏振變換選項允許測量和分析斯托克斯矢量和穆勒矩陣。反向散射組件選項提供沿入射光束直接散射的能量的敏感測量。樣品水平安裝在可在X和Y方向移動和/或旋轉(zhuǎn)的平臺上。入射角可以設(shè)置為距離表面法線85度以內(nèi)的任何角度。TASC可編程掃描上方半球(用于反射)或下方半球(用于傳輸)，每步分辨率可降至0.001。

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