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CCI HD 泰勒研究級(jí)非接觸式表面輪廓儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 上海冉超光電科技有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) CCIHD
  • 所在地 上海市
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2015/12/18 15:00:00
  • 訪問(wèn)次數(shù) 747

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泰勒研究級(jí)非接觸式表面輪廓儀CCI HD是一款非接觸式的光學(xué)3D輪廓儀,非常適合于制造和研究領(lǐng)域的應(yīng)用,可測(cè)量厚度至1.5微米的厚膜和厚度至50納米的薄膜涂層,具有測(cè)量方便快速和準(zhǔn)確性高等優(yōu)點(diǎn)。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

     泰勒研究級(jí)非接觸式表面輪廓儀CCI HD不僅能夠測(cè)量薄膜,也能夠測(cè)量厚膜;儀器具有性的關(guān)聯(lián)算法,可以查找儀器光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位,整合了世界的非接觸式尺寸測(cè)量功能和*的厚薄膜測(cè)量技術(shù),不僅可以測(cè)量尺寸和粗糙度還可以提供兩種類型的膜厚測(cè)量,近年來(lái)厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料;測(cè)量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA。 測(cè)量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高。泰勒研究級(jí)非接觸式表面輪廓儀CCI HD現(xiàn)在通過(guò)干涉測(cè)量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層。 采用這種新型方法,可以在單次測(cè)量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。

儀器技術(shù)參數(shù):

1.2048 x 2048像素陣列,視場(chǎng)廣,高分辨率

2.全量程0.1埃的分辨率

3.適用于0.3% - *的表面反射率

4.RMS 重復(fù)精度<0.2埃,階躍高度重復(fù)精度<0.1%

5.多語(yǔ)言版本的64位控制和分析軟件

CCI光學(xué)裝置:

無(wú)論對(duì)分析速度的要求有多高,泰勒創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。 高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無(wú)論是測(cè)量非常粗糙的表面,還是測(cè)量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。

CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識(shí)保持與時(shí)俱進(jìn),能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測(cè)量要求。 CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計(jì)融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測(cè)量的檢驗(yàn)工具。 CCI*的薄膜厚度測(cè)量功能,進(jìn)一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計(jì)的出色計(jì)量包裝 。

  • 2048 x 2048像素陣列,視場(chǎng)廣,高分辨率
  • 全量程0.1埃的分辨率
  • 輕松測(cè)量反射率為0.3% - *的各種表面
  • RMS重復(fù)精度<0.2埃,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
  • 多語(yǔ)言版本的64位控制和分析軟件


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