XDSIOPA近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗、縮短產(chǎn)品滯留時間，極小化實驗室分析時間而設(shè)計的

       XDS IOPA 近紅外光譜分析儀是為取代常規(guī)試驗、縮短產(chǎn)品滯留時間，極小化實驗室分析時間而設(shè)計的。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀可用于實驗室反應(yīng)監(jiān)測，并作為中試過程應(yīng)用的補(bǔ)充方案。XDS IOPA 近紅外光譜分析儀配有兩種探頭：反射探頭和浸入探頭。反射探頭適用于掃描固體、高度分散的液體和漿液。浸入探頭分析水狀產(chǎn)品、透明液體和溶劑。XDS IOP 分析儀的光纖式設(shè)計允許其在苛刻危險的取樣環(huán)境中直接使用。
       XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能，同時加快了了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實施時間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision®軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。按下一個按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成準(zhǔn)確的分析。

特點：

• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移
• 快速斷開式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測量
• 無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物
• 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
• 熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會影響性能