VERTEX 80/80v FTIR 光譜儀

VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質(zhì)光學元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現(xiàn)的靈敏度和穩(wěn)定性，助力進行諸多高難度試驗，如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。

得益于VERTEX 80/80v 的光學設計，系統(tǒng)不僅具備的靈活性，還擁有的性能。布魯克光學無二的DigiTect™技術，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的信噪比，這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結(jié)合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍。

譜區(qū)擴展

VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件，來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始，經(jīng)中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預準直光學元件以及主動準直的UltraScan™ 干涉儀，使切換和維護變得十分簡單。

BMS-c: 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。

您可以在真空條件下，通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器?，F(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。

全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發(fā)應用中，由于全新的遠紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm^-1 到 5 cm^-1 左右的光譜范圍，并且能夠?qū)⒅屑t外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。

光學分辨率

標準配置下的 VERTEX 80 和VERTEX 80v光譜儀可以提供優(yōu)于0.2 cm^-1的切趾光譜分辨率，足以應對大多數(shù)常壓下氣相研究及室溫樣品測量。對于更高要求的低溫作業(yè)，如晶態(tài)半導體材料或低壓氣相測試，VERTEX 80/80V系列 光譜儀可以提供優(yōu)于0.06cm^-1的分辨率，這是商用臺式FTIR光譜儀所能達到的分辨率。在可見光譜區(qū)，高分辨光譜能夠展現(xiàn)出優(yōu)于300000:1的分辨能力（定義為波數(shù)/光譜分辨率ν/?ν）。

多功能

創(chuàng)新的光學設計使靈活性和拓展能力的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺，該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠紅外區(qū)域具有的靈敏度，而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來的成果，例如在低至 10^-3 單層的納米科學研究領域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側(cè)、前側(cè)和左側(cè)布有5個光束輸出端口，右側(cè)和后側(cè)有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進行連接：例如，后側(cè)輸入端口的同步輻射光源、右側(cè)輸出口的 PMA50 偏振調(diào)制附件、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計探測器以及左側(cè)輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。

人工智能網(wǎng)絡

涵蓋采樣附件識別（AAR）和光學元件識別（ACR）、測量參數(shù)自動設置和檢查以及光譜儀功能的在線檢查（PerformanceGuard）的人工智能網(wǎng)絡，使得即使高級研究與開發(fā)FTIR光譜分析實驗也變得簡單、快速和可靠。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應用的理想儀器。

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