STO1400光耦測試儀
陜西天士立科技生產(chǎn)的STO1400光耦測試儀，可測試各類光耦參數(shù)，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，線性光耦、高速光耦，等。測試參數(shù)包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開關(guān)時(shí)間toff/ton”等。陜西天士立科技。
一、光耦測試儀·產(chǎn)品信息
產(chǎn)品型號：STO1400
產(chǎn)品名稱：光耦測試儀；
制造廠家：陜西天士立科技有限公司
主機(jī)尺寸：深305*寬280*高120(mm)
主機(jī)重量：＜5Kg
主機(jī)功耗：＜75W
環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；
相對濕度：≯85%；
防護(hù)條件：無較大灰塵，腐蝕性氣體，導(dǎo)電粉塵等；
電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作時(shí)間：連續(xù)；
二、光耦測試儀·產(chǎn)品介紹
STO1400光耦測試儀是一款布局緊湊、功能全面、界面友好、操作簡潔的單機(jī)測試儀器。專為各類光耦參數(shù)測試而設(shè)計(jì)開發(fā)，可測試各類單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光耦，線性光耦等。測試參數(shù)包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降 VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開關(guān)時(shí)間”......可測具體參數(shù)數(shù)值也可以進(jìn)行篩選性測試，既合格/不合格(OK/NO)。
STO1400光耦測試儀產(chǎn)品前面板設(shè)有“顯示屏區(qū)域”“操作按鍵區(qū)域”“接口區(qū)域”。基于飛思卡爾 16 位單片機(jī)編程的操作程序包含測試程序編輯、程序調(diào)用、數(shù)據(jù)保存、功能類型等常規(guī)設(shè)置。10 檔位分檔設(shè)計(jì)，耐壓測試電壓 1400V/可擴(kuò)展，測試正向壓降和輸出電流可達(dá) 1A/可擴(kuò)展
三、光耦測試儀·應(yīng)用場景
1、測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）
2、失效分析（對失效器件進(jìn)行測試分析，查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提出改善方案）
3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對）
4、來料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
5、量產(chǎn)測試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試）
6、替代進(jìn)口（STO1400光耦測試儀可替代同級別進(jìn)口產(chǎn)品）
四、光耦測試儀·產(chǎn)品特點(diǎn)
※ 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方便簡單.
※ 大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號數(shù).
※ 全部可編程的DUT恒流源和電壓源.
※ 內(nèi)置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.
※ 高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達(dá)1400V.
※ 重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題.
※ 軟件自校準(zhǔn)功能
※ 自動模式:自動檢測有無DUT放于測試座中,有則自動處于重復(fù)測試狀態(tài),無則處于重復(fù)檢測狀態(tài).
※ 手動模式：剛開始未測試時(shí)屏幕白屏屬正?，F(xiàn)象，當(dāng)測試開關(guān)按下后才自動對測試座中的DUT進(jìn)行檢測測試，長按開關(guān)不松開則處于重復(fù)測試狀態(tài),松開開關(guān)則自動停止測試。
※ 基于大規(guī)模微處理器設(shè)備,當(dāng)用戶選定了設(shè)置好的型號時(shí),在手動測試時(shí),按下測試開關(guān),使測試機(jī)開始執(zhí)行功能檢測,自動測試過程將在STO1400的測試座上檢測DUT短路,開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試.功能測試主要保護(hù)DUT不被因型號選錯(cuò)而測壞元件，
※ DUT的功能測試通過過,LCD顯示出DUT的引腳排列(P_XXX),
※ 測試方式(手動/自動)并繼續(xù)進(jìn)行循環(huán)測試,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示.
※ 在測試時(shí),能自動識別引腳功能,并自動轉(zhuǎn)換矩陣開關(guān)進(jìn)行參數(shù)測試.測試后顯示對應(yīng)引腳功能號
五、光耦測試儀·測試種類及參數(shù)
5.1、可測試的光耦類型
分類方式 | 具體分類 |
光路徑 | 外光路光耦（透過型和反射型） 內(nèi)光路光耦 |
輸出形式 | 光敏器件輸出型光耦 NPN三極管輸出型光耦 達(dá)林頓三極管輸出型光耦 邏輯門電路輸出型光耦（門電路輸出型，施密特觸發(fā)輸出型，三態(tài)門電路輸出型等） 低導(dǎo)通輸出型光耦 光開關(guān)輸出型光耦 功率輸出型光耦（IGBT/MOSFET等輸出）。 |
傳輸信號 | 數(shù)字光耦（OC門輸出型，圖騰柱輸出型及三態(tài)門電路輸出型等） 線性光耦（可分為低漂移型，高線性型，寬帶型，單電源型，雙電源型等）。 |
開關(guān)速度 | 低速光耦（光敏三極管、光電池等輸出型） 高速光耦（光敏二極管帶信號處理電路或者光敏集成電路輸出型） |
不同通道 | 單通道光耦 雙通道光耦 多通道光耦 |
隔離特性 | 普通隔離光耦 高壓隔離光耦 |
工作電壓 | 低電源電壓型光耦 高電源電壓型光耦 |
封裝形式 | 同軸型 雙列直插型 TO封裝型 扁平封裝型 貼片封裝型 光纖傳輸型 |
5.2、引腳定義
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極
5.3、測試參數(shù)
(1) 正向電壓 VF
(2) 正向電流 IF
(3) 擊穿電壓 VR
(4) 反向電流 IR
(5) 輸出低電平電源電流 ICCL
(6) 輸出高電平電源電流 ICCH
(7) 使能端高電平電壓 VEH
(8) 使能端低電平電壓 VEL
(9) 使能端高電平流 IEH
(10) 使能端低電平流 IEL
(11) 輸出端高電平電壓 VOH
(12) 輸出端低電平電壓 VOL
(13) 輸出端高電平電流 IOH
(14) 輸出端低電平電流流 IOL
(15) 電流傳輸比 CTR
(16) 輸出上升時(shí)間 Tr
(17) 輸出下降時(shí)間 Tf
(18) 上升傳輸延遲時(shí)間 tpLH
(19) 下降傳輸延遲時(shí)間 tpHL
5.4、參數(shù)定義
(1) VF：IF: 光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測試電流.
(2) Vce:Bv:光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電壓.
(3) Vce:Ir: 光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電流.
(4) CTR:IF:光耦傳輸比時(shí)輸入端的測試電流。
(5) CTR:Vce:光耦傳輸比時(shí)輸出端的測試電壓。
(6) Vsat:IF:光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測試電流。
(7) Vsat:Ic:光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測試電流。
六、光耦測試儀·技術(shù)規(guī)格
低配版·STO1400光耦測試儀
耐壓 BVCEO/BVECO | 測試范圍0-1400V 分辨率1V 精度<2%+2RD 測試條件0-2mA |
輸入正向壓降 VF | 測試范圍0-2V 分辨率2mV 精度<1%+2RD 測試條件0-1000mA |
輸出端反向漏電流 ICEO | 測試范圍0-2000uA 分辨率1UA 精度<5% +5RD 測試條件BVCE=25V |
反向漏電流 IR | 測試范圍0-2000uA 分辨率1UA 精度<5% +5RD 測試條件VR=0-20V |
電流傳輸比 CTR | 測試范圍0-9999 分辨率1% 精度1% +5RD 測試條件BVCE：0-20V 測試條件IF：0-100mA |
輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat) | 測試范圍0-2.000V 分辨率2mV 精度1% +5RD 測試條件IC：0-1.000A 測試條件IF：0-1.000A |
高配版·STO1400光耦測試儀
序號 | 參數(shù)名稱 | 符號 | 測試范圍 | 分辨率和精度要求 |
1 | 正向電壓 | VF | 0～20V | 量程±100V、±1000V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度 |
2 | 正向電流 | IF | 0～60mA | 量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
3 | 擊穿電壓 | VR | -20V～0 | 量程±1000V的分辨率和精度 |
4 | 反向電流 | IR | -10mA～0 | 量程±40mA ±4mA、±400μA、±40μA 、±4μA的分辨率和精度 |
5 | 輸出低電平電源電流 | ICCL | 0～5A | 量程 ±4，±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
6 | 輸出高電平電源電流 | ICCH | 0～5A | 量程±4A,±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
7 | 使能端高電平電壓 | VEH | 0～20V | 量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度 |
8 | 使能端低電平電壓 | VEL | 0～20V | 量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度 |
9 | 使能端高電平流 | IEH | 0～10mA | 量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
10
| 使能端低電平流 | IEL | 0～10mA | 量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度 |
陜西天士立科技有限公司研發(fā)生產(chǎn)的STO1400光耦測試儀，可測試各類光耦，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光耦，線性光耦等。測試參數(shù)包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開關(guān)時(shí)間toff/ton”等陜西天士立科技有限公司。
