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LAB 直讀光譜儀

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綜述德國(guó)斯派克新一代SPECTROLAB是高性能與靈活性的結(jié)合

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綜述
德國(guó)斯派克新一代SPECTROLAB 是高性能與靈活性的結(jié)合。的優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)由光電管和CCD雙光學(xué)系統(tǒng)合二為一,這是邁向全新概念金屬分析儀。新技術(shù)不但提高了分析性能,簡(jiǎn)化了操作程序,更重要是大大擴(kuò)展了靈活性。新一代SPECTROLAB 秉承了前一代的成功之處,賦予更多革命性創(chuàng)新。幾乎所有部件擁有了新的生命,其中很多是全新的發(fā)明。這些對(duì)分析性能至關(guān)重要的部件組群包括激發(fā)光源、光學(xué)系統(tǒng)和讀出系統(tǒng)。新技術(shù)組群量子躍遷般的發(fā)展進(jìn)步,相互優(yōu)化匹配使得同時(shí)具備分析性能和極大靈活性的 SPECTROLAB 成為無(wú)以匹敵的直讀光譜儀。新一代SPECTROLAB 設(shè)定了樣品分析的新標(biāo)準(zhǔn):分析時(shí)間更短,火花臺(tái)清理維護(hù)更少。全新的硬件診斷功能,實(shí)時(shí)可視監(jiān)控硬件運(yùn)行情況。 特點(diǎn)
配備技術(shù)自循環(huán)凈化裝置(UV-PLUS)的光學(xué)系統(tǒng)
SPECTROLAB的光學(xué)系統(tǒng)集合了傳統(tǒng)光電管光學(xué)系統(tǒng)和CCD全譜光學(xué)系統(tǒng)的所有優(yōu)點(diǎn)。采用優(yōu)化帕邢—龍格原理的“半殼”鑄造鋁框架技術(shù)提供了超常堅(jiān)固的機(jī)械結(jié)構(gòu),同時(shí)減小了內(nèi)部容積。為減少外部環(huán)境的影響,光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部恒溫恒壓。
主光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部包括兩個(gè)獨(dú)立的光譜模塊—光電管光學(xué)部分和CCD光學(xué)部分,各自配備一個(gè)原級(jí)全息光柵。第三光學(xué)系統(tǒng)是一個(gè)獨(dú)立的空氣光學(xué)系統(tǒng),將波長(zhǎng)范圍擴(kuò)展到780 nm。的自循環(huán)凈化系統(tǒng)(UV-PLUS)用于測(cè)量紫外波段(UV)和遠(yuǎn)紫外波段(VUV)光譜。嚴(yán)格密封的光學(xué)室內(nèi)部充以氬氣,無(wú)需復(fù)雜的技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)紫外及遠(yuǎn)紫外光在光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)不被吸收。分子薄膜泵驅(qū)動(dòng)氬氣在光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部和凈化裝置中循環(huán)。可以避免采用真空系統(tǒng)產(chǎn)生的油蒸氣污染或流動(dòng)沖氣系統(tǒng)帶來(lái)的外部污染。保持潔凈的光學(xué)系統(tǒng)和優(yōu)秀的長(zhǎng)期穩(wěn)定性表現(xiàn)。UV-PLUS的優(yōu)點(diǎn)是大大降低了運(yùn)行成本,并且在120-180nm的遠(yuǎn)紫外光譜波段提供了出色的光學(xué)表現(xiàn)。
的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和的UV-PLUS技術(shù),使得創(chuàng)新的SPECTROLAB光學(xué)系統(tǒng)能夠記錄120-780 nm波段的所有的一級(jí)相關(guān)光譜信息,CCD光學(xué)系統(tǒng)的光譜分辨率達(dá)到 9 皮米。
等離子發(fā)生器激發(fā)光源
研發(fā)的SPECTRO高效等離子發(fā)生器激發(fā)光源可以提供穩(wěn)定的火花放電。采用全數(shù)字信號(hào)發(fā)生和激發(fā)過(guò)程控制,激發(fā)區(qū)域的等離子能量可以高精度、高保真輸出。由于具備了全新的激發(fā)參數(shù)設(shè)置以及高純度的信號(hào)輸出,激發(fā)光源的精度得以顯著提高。分析精度因此顯著提高,分析周期大大縮短。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用程序,每次分析時(shí)間不超過(guò)18秒。
分析性能
根據(jù)用戶(hù)需求,量身定制。十種標(biāo)準(zhǔn)基體鐵、鋁、銅、鎳、鈷、鎂、鈦、錫、鉛和鋅, 可以與五種貴金屬基體:金、銀、鉑、鈀和釕組合配置。在 CCD 光學(xué)系統(tǒng)中可以實(shí)現(xiàn)120-780nm 波長(zhǎng)范圍內(nèi)所有元素的全譜記錄。在光電管光學(xué)系統(tǒng)中最多可以放置 108 個(gè)高性能光電備增管通道,每個(gè)通道配有微積分器(TRS 功能)和單火花評(píng)估(SSE 功能)。由此可以保證每一分析要求得以化滿(mǎn)足。配備現(xiàn)代化的光譜技術(shù)和高質(zhì)量的組成部件,SPECTROLAB 適用于各種分析要求。出眾的分析性能與高度靈活性相結(jié)合,能夠勝任諸如:過(guò)程控制分析,來(lái)料及成品檢驗(yàn),研究開(kāi)發(fā)部門(mén)、檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)等各方面分析任務(wù)。
讀出系統(tǒng)
全新設(shè)計(jì)的讀出系統(tǒng)可以同時(shí)處理來(lái)自光電管檢測(cè)器和CCD檢測(cè)器的信號(hào)。共有22塊(加第三光學(xué)系統(tǒng)共37塊)CCD檢測(cè)器,每個(gè)CCD包括3800 像素,類(lèi)似全譜波長(zhǎng)掃描,測(cè)量后大量數(shù)據(jù)結(jié)果可以集中顯示。這為材料研究(如未知材料判定,新合金配方等)提供了全新的分析手段。日常分析過(guò)程基于選定的光譜線(xiàn),只有元素的信號(hào)被采集。這可以實(shí)現(xiàn)瞬時(shí)信號(hào)的實(shí)時(shí)采集。分析結(jié)果可以取自整個(gè)測(cè)量過(guò)程中某一時(shí)序的瞬時(shí)信號(hào)測(cè)定。根據(jù)應(yīng)用要求,某些光譜線(xiàn)采用光電倍增管測(cè)量。光電流由微積分器處理,可以實(shí)現(xiàn)微秒級(jí)測(cè)量,每一單個(gè)火花放電過(guò)程可進(jìn)行100次以上的步進(jìn)測(cè)量,每個(gè)光電管通道的光譜峰值由步進(jìn)過(guò)程描跡而成。實(shí)現(xiàn)這些步進(jìn)過(guò)程測(cè)量以后,就可以根據(jù)需要定義測(cè)量“窗口”為其中某一時(shí)段動(dòng)態(tài)范圍或信背比時(shí)段(痕量火花分析技術(shù)SAFT),用以分析微量元素。相對(duì)于傳統(tǒng)的積分測(cè)量技術(shù),現(xiàn)在可以測(cè)量每一單個(gè)火花的放電信號(hào),而不是將千百次火花放電的總信號(hào)量積分成一個(gè)總量。由此實(shí)現(xiàn)剔除因樣品中夾雜物或氣造成的“失敗”放電信號(hào)。SSE單火花評(píng)價(jià)技術(shù)可以顯著提高分析性能??梢园凑辗治鲆蠓謩e獨(dú)立定義每一光電管通道的SAFT和SSE功能,也可以在一個(gè)分析周期內(nèi)多次定義。這一靈活性可以在最短的分析時(shí)間內(nèi)獲得分析結(jié)果。
火花臺(tái)
火花臺(tái)光路直接耦合到光學(xué)系統(tǒng)。第三光學(xué)系統(tǒng)通過(guò)光導(dǎo)纖維連接到火花臺(tái)?;鸹ㄅ_(tái)內(nèi)部空間減少,配合優(yōu)化的氬氣流向,使得氬氣消耗量在減小的同時(shí)有效驅(qū)除激發(fā)粉塵。尾氣進(jìn)入雙過(guò)濾系統(tǒng)除塵?;鸹ㄅ_(tái)的維護(hù)和雙過(guò)濾系統(tǒng)的維護(hù)工作量很低。樣品夾可以左右移動(dòng),并配有安全回路??梢赃m應(yīng)快速更換樣品,廣泛適用于各種樣品外形??梢赃x購(gòu)樣品夾具分析諸如小試樣、線(xiàn)材樣品或薄片樣品。
樣品分析
SPECTROLAB的人性化設(shè)計(jì)大大降低了校準(zhǔn)和維護(hù)工作量,使操作人員的日常工作更容易。每日樣品輸出量也將大大提高。Spark Analyzer Vision 軟件包集成了硬件診斷系統(tǒng)。連續(xù)檢查并將每天的儀器運(yùn)行狀態(tài)存檔。另外,軟件的界面簡(jiǎn)單、直觀,功能豐富,便于和外部計(jì)算機(jī)交換數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)材料牌號(hào)鑒定,合格樣品的判定,程序自動(dòng)查找等功能。集成的SQL數(shù)據(jù)庫(kù)完成豐富的數(shù)據(jù)管理功能。
軟件
導(dǎo)航條實(shí)現(xiàn)點(diǎn)擊進(jìn)入三個(gè)主要功能程序模塊:分析模式、方法建立和參數(shù)配置。在測(cè)量窗口操作者可以同時(shí)看到多次測(cè)量值和平均值。使用 Windows 剪貼板功能可以快速輕松地實(shí)現(xiàn)將測(cè)量結(jié)果或其他數(shù)據(jù)粘貼到不同的窗口界面。 技術(shù)配置
多光學(xué)系統(tǒng)
·帕邢 -龍格結(jié)構(gòu)
·光柵焦距 750 mm,羅蘭圓
·光學(xué)系統(tǒng)恒溫
·分析波長(zhǎng)范圍:120-780 nm
·的氬氣自動(dòng)循環(huán)氣體凈化系統(tǒng),用于分析小于 200 nm 波長(zhǎng)
·光路氬氣沖洗系統(tǒng)
·全息原級(jí)光柵 3600,2924 線(xiàn)/毫米
·光柵材料:微晶石英
·色散率
主光學(xué)系統(tǒng)
3600 線(xiàn)/毫米光柵,0.37 nm/mm (1級(jí)光譜)2924 線(xiàn)/毫米光柵,0.46/0.23 nm/mm(1/2 級(jí)光譜)第三光學(xué)系統(tǒng) 400 mm 焦距2400 線(xiàn)/毫米光柵,1.04 nm/mm (1級(jí)光譜)火花臺(tái)
·開(kāi)放式火花臺(tái),大樣品量輸出
·適于分析多種幾何形狀的樣品
·低氬氣消耗量
·減少分析工作量和維護(hù)時(shí)間
·易于更換的火花臺(tái)蓋板
·熱量吸收裝置,無(wú)需水冷卻
·采光快門(mén)優(yōu)化觀測(cè)角度激發(fā)系統(tǒng)
·全數(shù)字等離子發(fā)生器。數(shù)字放電參數(shù)設(shè)定,數(shù)字脈沖發(fā)生器,數(shù)字離線(xiàn)脈沖控制
·32 MHz 微處理器控制
·采樣速率:200 微秒 400 次
·能量分辨率:125 毫瓦
·最長(zhǎng)單次火花放電時(shí)間:4000 微秒
·火花功率:4千瓦
讀出系統(tǒng)
·光電管和 CCD 系統(tǒng)平行運(yùn)行
·平行 12 Bit 模數(shù)轉(zhuǎn)換器,每個(gè)信道1 MHz
·系統(tǒng)和操作過(guò)程自動(dòng)診斷
軟件
·基于 Windows 系統(tǒng)的用戶(hù)友好界面
·以 SQL 數(shù)據(jù)庫(kù)自動(dòng)存儲(chǔ)分析結(jié)果和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
·可用樣品的檢測(cè)技術(shù) (SATEUS),自動(dòng)檢測(cè)出預(yù)激發(fā)過(guò)程中有缺陷的樣品
·自調(diào)整預(yù)激發(fā)技術(shù) (SERPS), 自動(dòng)優(yōu)化預(yù)激發(fā)時(shí)間,直至消除樣品缺陷
·測(cè)量可靠的檢測(cè)技術(shù) (SETEME),可自動(dòng)檢測(cè)出分析過(guò)程中的有缺陷的樣品
·硬件故障自動(dòng)診斷 (可視系統(tǒng)和維護(hù)診斷)微機(jī)控制系統(tǒng)
·外置計(jì)算機(jī)控制
·Windows 操作系統(tǒng)
·鍵盤(pán)和鼠標(biāo)
·打印機(jī)
儀器尺寸
·1674× 771× 1409 毫米 (長(zhǎng)× 寬× 高)
重量
·重約 520 kg (不包括附屬設(shè)備)
電源要求
·230 VAC -15%/+10%,50 HZ
·待機(jī)功率 0.5 kVA
·激發(fā)功率 1.0 kVA
·16 A 慢熔保險(xiǎn)



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