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- 公司名稱 上海瓦克儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/3/11 23:21:40
- 訪問次數(shù) 36
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FEITalosF200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡(STEM)和TEM成像功能與能量色散X射線光譜儀(EDS)信號(hào)檢測(cè)功能及基于成分測(cè)繪的三維化學(xué)表征功能
FEI Talos F200X融合了高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (STEM) 和 TEM 成像功能與能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號(hào)檢測(cè)功能及基于成分測(cè)繪的三維化學(xué)表征功能。Talos F200X可在所有維度 (1D-4D) 下實(shí)現(xiàn)快速的 EDS 分析,以及支持快速導(dǎo)航的動(dòng)態(tài)顯微鏡 HRTEM 成像。
Talos F200S在STEM成像上具有多功能性和高的通量。與此同時(shí),F(xiàn)EI Talos F200S還提供高的穩(wěn)定性和長(zhǎng)的正常運(yùn)行時(shí)間。
Talos可以滿足冷凍單顆粒技術(shù)、冷凍電子斷層掃描技術(shù)、STEM電子斷層掃描技術(shù)的數(shù)據(jù)收集需求,如:
1、進(jìn)行液氮溫度的冷凍樣品數(shù)據(jù)收集;
2、可進(jìn)行單顆粒樣品數(shù)據(jù)收集;
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