●新型標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)、高集成電路、獨(dú)立供電、整體出縫，儀器調(diào)試方便、快捷，便于增加通道；●部件品質(zhì)優(yōu)良，核心部件全購(gòu)自國(guó)外專(zhuān)業(yè)廠家；●技術(shù)、、軟件功能齊全

●新型標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)、高集成電路、獨(dú)立供電、整體出縫，儀器調(diào)試方便、快捷，便于增加通道；

●部件品質(zhì)優(yōu)良，核心部件全購(gòu)自國(guó)外專(zhuān)業(yè)廠家；

●技術(shù)、、軟件功能齊全、靈活；

●DF-100E直讀光譜儀主要用于單基體的分析；

●工作環(huán)境：溫度范圍為10℃—30℃；相對(duì)濕度≤80%

●外形尺寸及重量：長(zhǎng)1420mm，寬920mm，高1300mm；重量約400kg。

1、CCD光譜儀裝有針對(duì)合金領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)系統(tǒng)軟件，具備自動(dòng)化、高靈敏、檢驗(yàn)時(shí)間較短、使用簡(jiǎn)單等特性。

2、全新的智能系統(tǒng)，一鍵智能化使用，選用雙模式設(shè)計(jì)（客戶(hù)模式和專(zhuān)家模式）。客戶(hù)模式一鍵鑒別試品材料；專(zhuān)家模式可進(jìn)行添加元素，添加曲線(xiàn)等詳細(xì)分析使用。

3、內(nèi)嵌強(qiáng)度校準(zhǔn)方式，校準(zhǔn)幾何狀態(tài)不同和構(gòu)造密度不均勻的試品產(chǎn)生的誤差。

4、光譜儀新設(shè)計(jì)的光學(xué)元件提供了更好的光學(xué)分辨率，探測(cè)器技術(shù)可以保證在很低的檢驗(yàn)限度下檢驗(yàn)各類(lèi)元素。這代表著在近共晶和過(guò)共晶鋁硅合金中可以檢驗(yàn)到小于20ppm的磷，并可以控制銻、鉍、鋰、鍶和鈉的含量，以保證很好的構(gòu)造改善。