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X熒光光譜分析儀iEDX-150WT(鍍層測(cè)厚儀)

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X熒光光譜分析儀iEDX-150WT(鍍層測(cè)厚儀)詳情介紹一、產(chǎn)品概述產(chǎn)品類(lèi)型:X熒光光譜儀產(chǎn)品名稱(chēng):鍍層測(cè)厚儀(可選配鍍液檢測(cè),RoHS檢測(cè),合金分析功能)型號(hào):iEDX-150WT生產(chǎn)商:韓國(guó)ISP公司二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)1.鍍層檢測(cè),最多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層

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X熒光光譜分析儀iEDX-150WT(鍍層測(cè)厚儀)

詳情介紹


一、產(chǎn)品概述

產(chǎn)品類(lèi)型: X熒光光譜儀 

產(chǎn)品名稱(chēng): 鍍層測(cè)厚儀 (可選配鍍液檢測(cè),RoHS檢測(cè),合金分析功能)

   號(hào): iEDX-150WT

產(chǎn) 商: 韓國(guó)ISP公司

二、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1. 鍍層檢測(cè),最多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層。

2. 對(duì)于薄鍍層分析精確,可以精確的分析小于1uin(0.025um)的鍍層,可以準(zhǔn)確分析0.2-0.5uin的金層。

3. 可同時(shí)進(jìn)行選配RoHS檢測(cè)功能,精確的測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測(cè)試無(wú)鹵素指令中的溴、氯等有害元素。

4. 可同時(shí)進(jìn)行選配鍍液藥水分析功能,一分鐘即可分析出藥水內(nèi)金,鎳,銅等藥水含量,分析精度為0.01ppm,

5. 可同時(shí)進(jìn)行選配合金成分分析功能。

6. 開(kāi)槽式超大可移動(dòng)全自動(dòng)樣品平臺(tái)610*525 (長(zhǎng)*寬),樣品移動(dòng)距離可達(dá)112*2X5mm(長(zhǎng)*寬*高) ;專(zhuān)為線路板行業(yè)研制。

7. 激光定位,可以連續(xù)自動(dòng)多點(diǎn)程控測(cè)量;

8. 可以選配多準(zhǔn)直器系統(tǒng),單準(zhǔn)直器/6個(gè)準(zhǔn)直器/7個(gè)準(zhǔn)直器。

9. 可檢測(cè)固體、液體、粉末狀態(tài)材料;

10. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低;

11. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無(wú)標(biāo)樣定性,半定量分析;

12. 操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速出檢測(cè)結(jié)果(20-40秒);

13. 標(biāo)配德國(guó)AmptekSI-Pin 探測(cè)器,選配高精度硅漂移SDD探測(cè)器,保證測(cè)試精度。

14. 軟件支持無(wú)標(biāo)樣分析。

15. 相對(duì)于傳統(tǒng)鍍層,開(kāi)機(jī)不需要預(yù)熱,可以可以測(cè)量,測(cè)量后可以直接關(guān)機(jī),節(jié)約用電,減少關(guān)鍵部件(X射線管,高壓等)消耗,并減少了等待時(shí)間。
三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明


 

標(biāo)配

選配

X射線管

高穩(wěn)定性X光管,使用壽命長(zhǎng)(工作時(shí)間>15,000小時(shí))。

MO (鉬)靶,鈹窗口, 光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

50kV,1mA,高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

高穩(wěn)定性微焦點(diǎn)X光管,使用壽命(工作時(shí)間>15,000小時(shí))。

MO (鉬)靶,鈹窗口, 光斑尺寸50um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

50kV,1mA,高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

平臺(tái)

固定平臺(tái)

軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。激光定位、簡(jiǎn)易荷載負(fù)載量為5公斤,控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)量。

平臺(tái)尺寸:610*525mm (長(zhǎng)*寬*高)

樣品移動(dòng)距離:112*2 X5 mm(X*Y*Z)

準(zhǔn)直器

單準(zhǔn)直器系統(tǒng) 0.2/0.3MM選1個(gè)

0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7種準(zhǔn)直器規(guī)格可選,客戶(hù)可最多選7種準(zhǔn)直器尺寸,可定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。

探測(cè)器

半導(dǎo)體Si-PIN 探測(cè)器,分辨率159eV,

高分辨率硅漂移SDD探測(cè)器,分辨率可達(dá)到125eV.

濾光片

初級(jí)濾光片:Al濾光片,自動(dòng)切換

/

樣品定位

顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能

/

視頻系統(tǒng)

高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)。

觀察范圍:3mm x 3mm。

放大倍數(shù):40X。

/

附件

含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)

/

軟件

標(biāo)配Multi-Ray鍍層分析軟件

1、選配ROHS分析軟件

2、選配合金分析軟件

3、選配藥水分析軟件

 檢測(cè)元素范圍

Al (13) ~ U(92)

/

分析樣品類(lèi)型

液體/固體/粉末

/

四、iEDX-150WT型號(hào)光譜儀軟件功能

1) 軟件應(yīng)用
- 單鍍層測(cè)量
- 線性層測(cè)量,如:薄膜測(cè)量
- 雙鍍層測(cè)量
- 針對(duì)合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測(cè)量。
- 無(wú)電鍍鎳測(cè)量
- 電鍍?nèi)芤簻y(cè)量
- 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

    - 勵(lì)磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法可以滿(mǎn)足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測(cè)量

2) 軟件標(biāo)定
- 自動(dòng)標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析

- 使用無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)計(jì)算方法

- 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定

- 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動(dòng)調(diào)整功能

3) 軟件校正功能:
- 基點(diǎn)校正(基線本底校正)

- 多材料基點(diǎn)校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等

- 密度校正

4) 軟件測(cè)量功能:
    - 快速開(kāi)始測(cè)量

- 快速測(cè)量過(guò)程

- 自動(dòng)測(cè)量條件設(shè)定(光管電流,濾光片,ROI)

5) 自動(dòng)測(cè)量功能(軟件平臺(tái))

- 同模式重復(fù)功能(可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)檢測(cè))

- 確認(rèn)測(cè)量位置 (具有圖形顯示功能)

- 測(cè)量開(kāi)始點(diǎn)設(shè)定功能(每個(gè)文件中存儲(chǔ)原始數(shù)據(jù))

- 測(cè)量開(kāi)始點(diǎn)存儲(chǔ)功能、打印數(shù)據(jù)

- 旋轉(zhuǎn)校正功能

- TSP應(yīng)用

- 行掃描及格柵功能

6) 光譜測(cè)量功能

- 定性分析功能 (KLM 標(biāo)記方法)

- 每個(gè)能量/通道元素ROI光標(biāo)

- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

- 光譜比較顯示功能:兩級(jí)顯示/疊加顯示/減法

- 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能(強(qiáng)度、能量)

7) 數(shù)據(jù)處理功能

- 監(jiān)測(cè)統(tǒng)計(jì)值: 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 值。

- 最小值、測(cè)量范圍,N 編號(hào)、 Cp、 Cpk,

- 獨(dú)立曲線顯示測(cè)量結(jié)果。

- 自動(dòng)優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

8)其他功能

- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

- 獨(dú)立操作控制平臺(tái)

- 視頻參數(shù)調(diào)整

- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接

- Multi-Ray、Smart-Ray自動(dòng)輸出檢測(cè)報(bào)告(HTML,Excel)

- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......

- 數(shù)據(jù)庫(kù)檢查程序

- 鍍層厚度測(cè)量程序保護(hù)。

9) 儀器維修和調(diào)整功能

- 自動(dòng)校準(zhǔn)功能;

- 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;

- 自動(dòng)校準(zhǔn)過(guò)程中值增加、偏置量、強(qiáng)度、探測(cè)器分辨率,迭代法取決于峰位置、 CPS、主X射線強(qiáng)度、輸入電壓、操作環(huán)境。


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