產(chǎn)品詳情
InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用國際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計和制造工藝技術(shù)，應(yīng)用了日本濱松公司**進(jìn)的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設(shè)值火花個數(shù)，與國際光譜儀＊＊技術(shù)同步，采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設(shè)計合理，操作簡單易學(xué)，具有數(shù)據(jù)＊＊，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。
鑄造 冶金 機械加工 消防 航天航空 金屬加工 金屬材料質(zhì)量鑒定 新材料開發(fā)
全譜譜線圖
CCD+CMOS全譜分析技術(shù)
豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準(zhǔn)確度；
基于全譜測量的數(shù)據(jù)，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測量精度；
智能選擇＊合適的靈敏線，通過多譜線結(jié)合技術(shù)，實現(xiàn)低中高含量段的檢測需求；
基于全譜測量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線干擾，實現(xiàn)精確測量。
CMOS線陣傳感器
**的實時智能漂移校正技術(shù)
在分析過程中實時進(jìn)行光譜漂移校正，增強儀器穩(wěn)定性；
減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長校正周期；
自動完成儀器校正，操作更加簡便。
譜線漂移校正
的CMOS檢測技術(shù)優(yōu)于CCD
CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度；
CMOS相比CCD具有更好的線性度；
CMOS相比CCD具有的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測更準(zhǔn)確。
紫外元素強度對比
創(chuàng)CMOS全譜接收技術(shù)；
人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；
一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計；
可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù)；
可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體；
波長范圍140-680nm，可滿足更多元素的分析要求。
