phoenixnanome|x——超高分辨率的納米焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)，設(shè)計用于檢測半導(dǎo)體及SMT行業(yè)的高品質(zhì)的組件和互連該系統(tǒng)具有良好的性能和多功能性，可用于二維X射線檢測，以及全三維計算機(jī)斷層掃描(nanoct)

phoenix nanome|x

—— 超高分辨率的納米焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)，設(shè)計用于檢測半導(dǎo)體及SMT行業(yè)的高品質(zhì)的組件和互連

該系統(tǒng)具有良好的性能和多功能性，可用于二維X射線檢測，以及全三維計算機(jī)斷層掃描(nano ct)。有了新的 x|act 軟件包， phoenix nanome|x是可選的系統(tǒng)，用以確保滿足目前和未來的要求。

特色

主要功能

• 通過雙向檢波器技術(shù)（數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測器）獲取的清晰的活動影像
• 高放大倍率
• 熟練的操作
• 高度的可再現(xiàn)性
• 180千伏/ 15 W高功率開放納米焦點(diǎn)管具有高達(dá)200納米的細(xì)節(jié)探測能力
• 可升級到 nanoCTò
• 可選：
  • x|act 軟件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自動X射線檢測(?AXI），以達(dá)到的缺陷覆蓋率，具有高放大倍率和可再現(xiàn)性
  • 通過高動態(tài)溫度穩(wěn)定的DXR數(shù)字探測器與主動冷卻獲取的30 FPS（幀每秒）的清晰的活動檢測影像
  • 10秒內(nèi)的三維計算機(jī)斷層掃描
  • 通過菱形|窗口以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集

顧客利益：

• 組合的二維 /三維CT操作
• 通過雙向檢波器技術(shù)（數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測器）獲取的清晰的活動影像
• 檢測步驟的自動化是可能的
• 明顯的易用性

半導(dǎo)體與其他電子元件