小角X射線散射（SAXS）：NANOSTAR
帶您探索納米世界的望遠(yuǎn)鏡|采用模塊化設(shè)計(jì)的專用小角度X射線散射（SAXS）系統(tǒng)，為您的實(shí)驗(yàn)帶來靈活性
NANOGRAPHY - SAXS - WAXS - GISAXS
亮點(diǎn)：
Φ 14 厘米
通過VÅNTEC-500可得到較大的2D有效區(qū)域
通過這種較大的完整視野，一次即可拍攝收集到所有的各向同性或各向異性的散射信號(hào)。
>200納米
適用的長(zhǎng)度范圍
模塊化設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)大范圍的散射覆蓋，以充分表征長(zhǎng)度大于125 nm的納米結(jié)構(gòu)。
5-150 厘米
樣品到探測(cè)器的距離
探測(cè)器寬廣的定位范圍，可優(yōu)化對(duì)樣品的散射覆蓋情況。
帶擴(kuò)展二次光束路徑的 NANOSTAR
NANOSTAR具有的模塊化特性，它是通過小角X射線散射（SAXS）、掠入小角X射線散射（GI-SAXS）、廣角X射線散射（WAXS）以及Nanography，對(duì)納米結(jié)構(gòu)以及納米結(jié)構(gòu)表面進(jìn)行表征的理想工具。支持鏡面調(diào)節(jié)的針孔準(zhǔn)直系統(tǒng)提供了一種高強(qiáng)度和具有低寄生散射的平行線束，且保持了理想的圓形光束形狀。超大（XL）樣品室可容納各種專用樣品臺(tái)和第三方樣品臺(tái)，以便您在任何條件下對(duì)多種類型的樣品進(jìn)行測(cè)量。最后，您將能通過大型、低背景、高度靈敏的2D探測(cè)器，收集各向同性和各向異性樣品的散射信號(hào)。
NANOSTAR特點(diǎn)
IμS微焦源
這款無二的X射線源無需水冷，即可提供非常穩(wěn)定的高強(qiáng)度點(diǎn)聚焦X射線束。得益于其堅(jiān)固的設(shè)計(jì)，其射線源帶有3年保修。IμS包含了集成的MONTEL、的2D光束整形光學(xué)器件，可在樣品上實(shí)現(xiàn)強(qiáng)度。這種并排的多層反射鏡設(shè)計(jì)可捕獲來射線源發(fā)出的大x射線立體角，并在高度平行的單色光束中有效地重新定向。
NANOSTAR特點(diǎn)
XL樣品室
這款非常便利的超大型（XL）樣品室增設(shè)了許多通孔，可在真空、惰性氣體或大氣條件下運(yùn)行。它還可容納許多其他的標(biāo)準(zhǔn)組件，便于您對(duì)多個(gè)樣品、第三方以及在定制階段進(jìn)行個(gè)性化處理，以實(shí)現(xiàn)的可見度。而具有大移動(dòng)范圍的電動(dòng)X-Y樣品臺(tái)和輔助電動(dòng)參考樣品架輪，更是能讓您輕而易舉地進(jìn)行樣品自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)以及參考和背景掃描！
NANOSTAR特點(diǎn)
VÅNTEC-500 2D探測(cè)器
采用MikrogapTM 技術(shù)的VANTEC-500 2-D探測(cè)器可理想地滿足專用SAXS系統(tǒng)的所有要求。首先，無需氣體、水或例行維護(hù)，您亦無需擔(dān)心強(qiáng)輻射或運(yùn)動(dòng)損壞，因此，該探測(cè)器十分堅(jiān)固易用。較大的有效區(qū)域（直徑14厘米）可實(shí)現(xiàn)大角度覆蓋，同時(shí)帶來完整的視野。極低的背景和較高的計(jì)數(shù)率，可實(shí)現(xiàn)出色的動(dòng)態(tài)范圍，并且對(duì)于對(duì)弱散射樣品十分靈敏。出色的空間分辨率，可解決小間距散射問題。目前，尚無其他探測(cè)器可為這些應(yīng)用提供這類理想的功能組合。
NANOSTAR參數(shù)：
