從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
實的測定功能
使用一臺即可進(jìn)行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
測定反射率
測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。
測定膜厚
活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。
測定物體顏色
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。
測定透過率 (選配)
從受臺下部透過?2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。
測定入射角為45度的反射率（選配）
從側(cè)面向45度面反射?2mm的平行光，測定其反射率。
域的高精度&高速測定
實現(xiàn)高速測定
使用平面光柵及線傳感器進(jìn)行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。
十分適用于測定細(xì)小部件、鏡片的反射率
新設(shè)計了可以在?17~70μm的測定區(qū)域中進(jìn)行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進(jìn)行測定的細(xì)小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
測定反射率時，不需要背面防反射處理
將專用物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進(jìn)行被檢測物背面的防反射處理，就可測定0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進(jìn)行測定。
可選擇的膜厚測定方法
根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行單層膜或多層膜的膜厚解析?？梢愿鶕?jù)用途選擇z佳的測定方法。
峰谷法
這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置，可以簡單地求出。
傅里葉轉(zhuǎn)換法
這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時，可以幾乎不受噪音的影響進(jìn)行解析。
曲線調(diào)整法
這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計算的反射率的差達(dá)到最小的構(gòu)造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進(jìn)行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。
多樣化應(yīng)用
高速、高精度地應(yīng)對多樣化測定需求。
通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學(xué)元件的反射率，進(jìn)行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。
數(shù)碼相機(jī)鏡片
投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片
適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。
LED包裝
半導(dǎo)體基板
適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。
液晶彩色濾鏡
光學(xué)薄膜
適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。
棱鏡
反射鏡
