JCM-7000臺(tái)式掃描電子顯微鏡是日本電子新推出的一款臺(tái)式掃描電子顯微鏡，其不僅具有大型掃描電鏡的功能，相對于大型掃描電鏡其操作簡單，維護(hù)保養(yǎng)容易，體積小巧，價(jià)格低廉，檢測速度快，從啟動(dòng)裝填樣品到測試出結(jié)果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實(shí)時(shí)能譜分析和實(shí)時(shí)3D顯示的功能，更人性化的服務(wù)于您的研究和工作。

JCM-7000主要功能：

◆       在同一個(gè)視野上可以從光學(xué)圖像無縫過渡到（SEM）圖像

◆       邊觀察邊進(jìn)行元素分析

◆       通過自動(dòng)功能使圖像從低倍率到高倍率變得更容易

◆       低真空 (LV) 模式可以用來直接觀測不導(dǎo)電的樣品

◆       高真空 (HV) 模式可以進(jìn)行高倍率詳細(xì)形貌的觀察

◆       在同一視野上可以實(shí)時(shí)顯示3D圖像 (Live 3D)

◆      自動(dòng)布局且可以一鍵輸出結(jié)果（SMILE VIEW TM   Lab)

以下介紹幾個(gè)典型實(shí)例方便您對我們這款產(chǎn)品的深入了解：

上圖測試的樣品是巖鹽，JCM-7000可以由光學(xué)成像實(shí)時(shí)自動(dòng)無縫過渡到SEM成像。

上圖測試的樣品是合金，JCM-7000通過高靈敏度探測器既可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)顯示視野范圍中的主要組成元素，又能實(shí)時(shí)顯示各種元素的面分布情況。

上圖測試的樣品是螺絲，JCM-7000采用新型高靈敏度4分割背散射電子探測器，利用實(shí)時(shí)3D功能，實(shí)現(xiàn)了四種掃描電鏡（成分、凹凸、陰影）圖像和三維圖像的采集和顯示，由圖可以清晰看出螺絲的凹凸紋理。

上圖測試的樣品是不銹鋼 SUS304斷裂面，JCM-7000利用高真空模式和SEM圖像觀察，可以進(jìn)行更精確的觀察，如圖所示在高真空條件下可以清晰的觀察條紋和韌窩的解理面，由此推斷其斷裂成因。

上圖測試的樣品是玻璃，由圖可以看出透明樣品斷面在光學(xué)顯微鏡下很難觀察形貌，在低真空下，相同放大倍數(shù)的SEM成像可以呈現(xiàn)清晰的表面形貌，放大后可清晰的觀察細(xì)節(jié)SEM成像。