性能特點

1）MX4R系列為型FPD檢查顯微鏡，專為LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查

2）MX4R系列機型采用4寸、6寸平臺設(shè)計，可適用于相應尺寸的晶圓或小尺寸樣品的金相檢查

3）MX4R系列，其微分干涉效果可與進口品牌相媲美

4）MX4R系列機型采用全新設(shè)計的長工作距物鏡、半復消色差技術(shù)，多層寬帶鍍膜技術(shù)，采用長壽命LED光源

5）多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察

★ 可選配6英寸三層機械移動平臺，平臺面積445×240mm，行程158×158mm；帶快速移動裝置；玻璃載物臺板，透反兩用平臺；

★ 可選配8英寸三層機械移動平臺，平臺面積450×310mm，行程200×170mm；帶快速移動裝置；玻璃載物臺板，透反兩用平臺；

★ 可選配標準微分干涉（DIC）裝置、OLYMPUS微分干涉（DIC）裝置