M4型全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，全數(shù)字化及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)結(jié)合，運(yùn)用高分辯率CMOS檢測器，精密設(shè)計(jì)的氬氣吹掃系統(tǒng)，使儀器具有較高的性能、較低的成本、以及竟?fàn)幜Φ膬r(jià)格

特別聲明：由于技術(shù)進(jìn)步、產(chǎn)品升級(jí)、市場變化等原因引起的上述儀器部件、備件等生產(chǎn)及供貨廠商變動(dòng)時(shí)，以實(shí)際發(fā)貨為準(zhǔn)。

三、技術(shù)配置

3.1 規(guī)格和技術(shù)參數(shù)

3.2 光學(xué)系統(tǒng)

l  帕型-龍格結(jié)構(gòu)的全譜光學(xué)系統(tǒng)

l  波長覆蓋范圍寬

l  多個(gè)高性能CMOS探測器

l  一體化光學(xué)室加工成型，耐環(huán)境溫度變化

l  精密設(shè)計(jì)的氬氣吹掃系統(tǒng)，保證C、S、P都能達(dá)到性能。

l  光室恒溫控制，恒溫溫度為34℃；

3.3 樣品激發(fā)臺(tái)

l  集成氣路、噴射電極技術(shù)；

l  優(yōu)化的氬氣氣路設(shè)計(jì)保證激發(fā)臺(tái)的有效冷卻和激發(fā)過程中產(chǎn)生的金屬粉塵有效進(jìn)入過濾器；使樣品激發(fā)更加穩(wěn)定，并大大減少了人體對金屬粉塵的攝入，有利于保護(hù)操作人員的健康安全；

l  更小的激發(fā)空間，使氬氣消耗更小；

l  便于使用的樣品夾具

l  具有電極自吹掃功能，使電極使用壽命更長、清潔電極更加容易

l  開放式樣品激發(fā)臺(tái)可適應(yīng)各種大小、更多形狀樣品的分析（含線材）；

l  單反式透鏡裝置設(shè)計(jì)，一般人員都能方便對激發(fā)臺(tái)進(jìn)行維護(hù)和透鏡的清洗

3.4 激發(fā)光源

l  全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源，頻率可達(dá)1000Hz；

l  高能預(yù)然技術(shù)（HEPS）；

l  優(yōu)化設(shè)計(jì)的控制和功率電路，完善的激發(fā)安全保護(hù)功能

l  為不同分析目標(biāo)提供火花、電弧或組合激發(fā)波形

l  放電電流：400 A

3.5數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

l  高性能ARM數(shù)據(jù)處理器，具有超高速數(shù)據(jù)采集及控制功能

l  高性能多CMOS檢測技術(shù)，波段內(nèi)的譜線全譜接收；

l  外置式計(jì)算機(jī)（用戶自選）

l  FPGA及高速數(shù)據(jù)通訊技術(shù)，數(shù)據(jù)讀入功能強(qiáng)大，檢測數(shù)據(jù)整體讀入時(shí)間短

3.6分析軟件

l  基于Windows系統(tǒng)的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件，方便實(shí)用

l  管理的控制整個(gè)測量過程及為用戶提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力和測試報(bào)告輸出能力

l  儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析及解決方案

l  軟件實(shí)現(xiàn)全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力

l  完備的自動(dòng)系統(tǒng)診斷功能

l  完善的數(shù)據(jù)庫管理功能，可方便查詢、匯總數(shù)據(jù)

l  智能校正算法，保證儀器穩(wěn)定可靠

l  完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析更為

l  適應(yīng)的Windows操作系統(tǒng)