BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡(jiǎn)化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測(cè)試條件和測(cè)試參數(shù)的設(shè)定,測(cè)試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中，測(cè)試便捷。

BW-3010B

晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀（雙功能版）

品牌： 博微電通

名稱：晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀(光耦&光電傳感器雙功能版)

型號(hào)： BW-3010B

用途： BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試。                                                                      

BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡(jiǎn)化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測(cè)試條件和測(cè)試參數(shù)的設(shè)定,測(cè)試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中，測(cè)試條件可以任意設(shè)置，測(cè)試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A，操作簡(jiǎn)便，實(shí)用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測(cè)試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來(lái)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品選型等重要檢測(cè)設(shè)備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù)：

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào)：BW-3022A

產(chǎn)品名稱：晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀；

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸：深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量：＜4.5Kg

主機(jī)顏色：白色系

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗：＜75W

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲(chǔ)存）、5℃～50℃（工作）；

相對(duì)濕度：≯85%；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護(hù)條件：無(wú)較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導(dǎo)電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時(shí)間：連續(xù)；

服務(wù)領(lǐng)域：

    應(yīng)用場(chǎng)景：

   ?選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試，將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì)）

   ?檢驗(yàn)篩選（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

   產(chǎn)品特點(diǎn)：

   ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡(jiǎn)潔,操作方面簡(jiǎn)單

   ?大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).

   ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

   ?內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測(cè)試電路,電壓/電流源和測(cè)試回路.

   ?高壓測(cè)試電流分辨率1uA,測(cè)試電壓可達(dá)1500V；

   ?重復(fù)”回路”式測(cè)試解決了元件發(fā)熱和間歇的問(wèn)題；

   ?軟件自校準(zhǔn)功能；

   ?自動(dòng)測(cè)試測(cè)DUT短路、開(kāi)路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測(cè)試；

   ?DUT的功能檢測(cè)通過(guò)LCD顯示出被測(cè)器件/DUT的類型，顯示測(cè)試結(jié)果是否合格,并有聲光提示；

   ?兩種工作模式：手動(dòng)、自動(dòng)測(cè)試模式。

        BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對(duì)應(yīng)關(guān)系

                                               BW-3010B測(cè)試技術(shù)指標(biāo)：

1、光電傳感器指標(biāo):

輸入正向壓降(VF)

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

輸出漏電流(Iceo)

2、光電耦合器：

耐壓(VCEO)測(cè)試指標(biāo)

輸入正向壓降(VF)

反向漏電流(ICEO)

反向漏電流(IR)

電流傳輸比(CTR)

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

可分檔位總數(shù)：10檔

      BW-3010B測(cè)試定義與規(guī)范：

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測(cè)試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測(cè)試電流.

Vce:Bv:表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電壓.

Vce:Ir: 表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電流.

CTR:IF:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸入端的測(cè)試電流。

CTR:Vce:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸出端的測(cè)試電壓。

Vsat:IF:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測(cè)試電流。

Vsat:Ic:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測(cè)試電流。