200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能

通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。
透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動校正功能，像差校正后的SEM圖像和對稱Dual SDD技術等特點。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術。
對于包括用戶在內(nèi)的廣泛用戶，我們提供亞?級空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。

• ※

• 附帶第二顯示器（可選），顯示屏為嵌入式合成界面。

1. 標配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動校正功能）

2. 搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍

3. 鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機體的性能大幅度提升

4. 觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時觀察原子分辨率SE圖像

5. 采用側面放入樣品的新型樣品臺結構以及樣品桿

6. 支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*）

7. 采用全新構造的機體外殼蓋

8. 配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*

主要規(guī)格

機體尺寸/重量

安裝條件

購買之前，請設置預定安裝處測量振動、磁場和噪聲，如果超過容許值，請務必另行咨詢。
關于容許值，請另行咨詢。

• 備注

• *1：選項。*2：Windows是在美國以及其他國家的注冊的美國Microsoft Corp.商標。*3：規(guī)格、尺寸均根據(jù)廠家、型號和配置的不同而會有所不同。