描述

日本三豐SJ-410表面粗超度測量儀 分體粗糙度儀178-580-01DC

日本三豐SJ-410粗糙度儀簡介：

測量范圍
X 軸(檢出部) 25mm 50mm
Z 軸(檢出部) 800μm、80μm、8μm
* 選配測頭大可到2,400μm
檢出器
檢出方式差動(dòng)電感方式
分辨率
0.01μm(800μm 范圍)
0.001μm(80μm 范圍)
0.0001μm(8μm 范圍)
測頭尖形狀(角度/ 半徑) 60o/2μm 90o/5μm 60o/2μm 90o/5μm
測力0.75mN 4mN 0.75mN 4mN
彎曲半徑40mm
檢測方法無軌式/ 有軌式(切換)
驅(qū)動(dòng)部(X 軸)
測量速度0.05、0.1、0.2、0.5、1.0mm/s
驅(qū)動(dòng)速度0.5、1、2、5mm/s
直線度0.3μm / 25mm 0.5μm / 50mm
上下傾斜單元
上下移動(dòng)量10mm
傾斜角度±1.5o
對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)JIS1982 / JIS1994 / JIS2001 / ISO1997 / ANSI / VDA
參數(shù)Ra, Rq, Rz, Ry, Rp, Rv, Rt, R3z, Rsk, Rku, Rc, RPc, RSm, Rmax*1, Rz1max*2, S, HSC, RzJIS*3, Rppi, RΔa, RΔq, Rlr, Rmr, Rmr(c),
Rσc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa,λq, Lo, Rpm, tp*4, Htp*4, R, Rx, AR, W, AW, Wx, 自定義設(shè)置
評價(jià)曲線
斷面曲線、粗糙度曲線、DF 曲線、波紋曲線
表面粗糙度MOTIF、波形MOTIF 曲線
解析圖表負(fù)荷曲線、振幅分布曲線
曲線補(bǔ)償拋物線、雙曲線、圓錐、圓、二次曲線、傾斜補(bǔ)償、無補(bǔ)償
濾波器2CR、PC75、高斯(Gaussian Filter)
截止波長0.08、0.25、0.8、2.5、8.0mm
取樣長度0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25.0mm
取樣數(shù)×1、×2、×3、×4、×5、×6、×7、×8、×9、×10、×11、×12、×13、×14、×15、×16、×17、×18、×19、×20
任意長0.1 ～ 25mm 0.1 ～ 50mm
演算顯示部
自定義功能可選擇想顯示/ 演算的粗糙度參數(shù)
簡易輪廓解析功能階差、階差量、面積、坐標(biāo)差
D.A.T 功能輔助無軌測量時(shí)的水平調(diào)整
實(shí)時(shí)取樣功能保持驅(qū)動(dòng)部停止?fàn)顟B(tài)下輸入檢出器的變位
統(tǒng)計(jì)處理對一個(gè)參數(shù)演算大值、小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、合格率、直方圖
合格與否判定大值規(guī)則/ 16%規(guī)則/ 平均值規(guī)則/ 標(biāo)準(zhǔn)偏差（1σ, 2σ, 3σ）
測量條件的保存大10 件(演算顯示部)
打印機(jī)
(內(nèi)置熱敏打印機(jī))
測量條件/ 演算結(jié)果/ 合格與否判定結(jié)果/ 每個(gè)間隔的演算結(jié)果/ 公差值/ 分析曲線/ 顯示曲線/ 負(fù)荷曲線/
振幅分布曲線/ 環(huán)境設(shè)定項(xiàng)目/ 統(tǒng)計(jì)結(jié)果(直方圖)
顯示語言
對應(yīng)16 語言(日本、英國、英、德國、法國、意大利、西班牙、葡萄牙、韓國、中國(簡體、繁體)、捷克，波蘭、
匈牙利、土耳其、瑞典、荷蘭)
外部記憶卡(2GB，選配) 測量條件(大500 件)、測量數(shù)據(jù)(大10000 件) 的保存/ 調(diào)出
外部輸入功能USB I /F、Digimatic 輸出、RS-232C I /F、FootstichI/F (腳踏開關(guān))
電源
電池
* 充電時(shí)間/ 可測量次數(shù)
內(nèi)置電池(Ni-MH 充電池) / AC 適配器2 種電源
* 內(nèi)藏電池充電時(shí)間∶約4 小時(shí)(根據(jù)環(huán)境溫度有所不同)
* 測量可能回?cái)?shù)∶約1000 次(根據(jù)使用條件、環(huán)境等不同有所不同)
大功耗50W