2.5次元影像測量儀
產(chǎn)品應(yīng)用：
2.5次元影像測量儀是本公司自主研發(fā)的一款高性價比的測量設(shè)備。普通二次元僅是測量二維參數(shù)，的技術(shù)發(fā)展的2.5次元也可以測量部分三維參數(shù)，可實(shí)現(xiàn)高效，準(zhǔn)確的工件測量；適用于精密零部件的檢測和質(zhì)量控制。在機(jī)械，電子，五金，塑膠等行業(yè)都得到了廣泛的應(yīng)用。多功能數(shù)據(jù)處理器可測點(diǎn)、線、圓弧、圓、角度等十幾種數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.Z軸方向加探針傳感器后可以做2.5D的測量。
2.組合測量、中心點(diǎn)構(gòu)造、交點(diǎn)構(gòu)造，線構(gòu)造、圓構(gòu)造、角度構(gòu)造；
3.在加了探針的情況下，還可以直接用探針打點(diǎn)然后導(dǎo)入到逆向工程軟件做進(jìn)一步處理！軟件可以自由實(shí)現(xiàn)探針/影像 相互轉(zhuǎn)換。
4.高精度高強(qiáng)度機(jī)臺：00級大理石底座/立柱/工作臺，精度高，穩(wěn)定性好。
5. XYZ三軸精密V型交叉導(dǎo)軌！X/Y軸光桿傳動、Z軸光桿傳動系統(tǒng)，壽命長，穩(wěn)定性好。
6.高精度光柵尺0.0005mm。
7.自動變倍光學(xué)鏡頭，實(shí)現(xiàn)全自動測量，無需變倍校正。
8.高清日本SONY CCD相機(jī)，高品質(zhì)的測量畫面。
9.自動對焦測量，光學(xué)測高測平面度，可加裝英國RENISHAW接觸式測頭。
10.程控式三環(huán)八區(qū)表面光源，LED輪廓光源，同軸光源。不同產(chǎn)品加裝不同色彩光源。
11.配套操縱手柄，方便任意位置操作。
12.結(jié)合進(jìn)口軟件功能研發(fā)的3D測量軟件，提高邊界分辨能力。
注：有不同型號，不同尺寸！
| 規(guī)格參數(shù) | RH-CLY-3020B |
| 工
作
臺 | X/Y軸行程 | 300MM*200MM |
| Z軸行程 | 有效空間245mm,調(diào)焦行程200mm，工作距離90mm |
| 玻璃臺面尺寸 | 330MM*230MM |
| 傳動型式 | XYZ三軸精密V型交叉導(dǎo)軌！X/Y軸光桿傳動、Z軸光桿傳動 |
| 測量伺服驅(qū)動
系統(tǒng) | 光學(xué)尺分辨率：X/Y/Z軸0.0005MM（0.5UM） |
| 測量精度：≤3UM+L/200 重復(fù)精度：≤3UM+L/200 |
| X/Y/Z三軸中國臺灣高性能伺服電機(jī)，雙重閉環(huán)控制系統(tǒng) |
| 影像系統(tǒng) | 攝像機(jī)：日本SONY 1/3″CCD 攝像機(jī)放大倍率30-210X |
| 自動變倍鏡頭：NAV高清變倍鏡頭//連續(xù)放大倍率0.7-4.5X
可選配0.5X物鏡時，總放大倍率15-115X
可選配2X物鏡時，總放大倍率60-460X |
| 光源系統(tǒng) | 表面光源與透射光源LED冷光源、壽命長、亮度可調(diào) |
| 3D探針系統(tǒng) | 英國雷尼紹Renishaw探針組！探針附送￠1//￠2 |
| 儀器外形尺寸（L*W*H） | 600MM*750MM*1100MM |
| 儀器重量（KG） | 260KG |
軟件介紹：
測控軟件功能強(qiáng)大、高精度、運(yùn)行穩(wěn)定可靠、各個操作界面簡單直觀
1、自動抓取測量功能(自動捕捉點(diǎn)、線、圓，圓弧等)
2、可以使用多種方式進(jìn)行客戶坐標(biāo)的設(shè)置。待檢測件不需擺正，即可完成測量工作。
3、具有自動保存功能，可根據(jù)需要設(shè)定自動保存的時間，以防止突然斷電等突發(fā)情況。
4、提供簡體中文、繁體中文、英文操作環(huán)境，并可快速切換。
5、測量數(shù)據(jù)多種輸出格式選擇，如：DXF、Word、Excel .CAD等。
6、具有SPC統(tǒng)計分析功能，方便用戶對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計分析。
7、可以直接在影像區(qū)對圖像中的元素進(jìn)行標(biāo)注。
8、人性化的地圖導(dǎo)航功能可以幫助你在大工件上快速定位局部位置，縮短了操作需要的尋找時間。打開地圖可以虛擬測量或?qū)Ш健?/span>
9、圖紙比對：打開CAD設(shè)計圖紙，與實(shí)際影像不吻合，使用圖紙比對中的擺正功能可以將打開的圖紙與影像重合。使用擺正后的圖形，可以進(jìn)行測量或做簡單比對。
10、內(nèi)置SPC（統(tǒng)計過程控制)功能，可以在測量后讀取的測量數(shù)據(jù)，生成X-R、Xm-R等控制圖，并計算值，最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、偏移值、Ca、Cp、Cpk等統(tǒng)計系數(shù)。
11、測量范圍：產(chǎn)品二維平面的：長、寬、R角、弧度、直徑、半徑、倒角、行位公差、圓柱外徑/內(nèi)徑、圓錐的頂角、球直徑、圓柱外直徑（無垂直橫截面）、圓柱內(nèi)直徑、圓柱度、圓柱垂直度同軸度等。
