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- 公司名稱 北京依維特技術(shù)服務(wù)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/8/9 14:38:50
- 訪問次數(shù) 74
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設(shè)備介紹飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)(TimeofFlightSecondaryIonMassSpectrometry,TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),通過用一次離子激發(fā)樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質(zhì)量,具有分辨率的測量技術(shù)
飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),通過用一次離子激發(fā)樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據(jù)二次離子因不同的質(zhì)量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質(zhì)量,具有分辨率的測量技術(shù)。
飛行時間二次離子質(zhì)譜IONTOF 5
應(yīng)用范圍:當(dāng)產(chǎn)品表面存在微小的異物,而常規(guī)的成分測試方法無法準(zhǔn)確對異物進行定性定量分析,可選擇TOF-SIMS.
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