適用領域廣泛應用于材料、化學、物理、地質(zhì)、地理、環(huán)境、生物、醫(yī)學、金屬、半導體、高分子、陶瓷等學科及領域主要功能TEM形貌觀察及HRTEM

適用領域

廣泛應用于材料、化學、物理、地質(zhì)、地理、環(huán)境、生物、醫(yī)學、金屬、半導體、高分子、陶瓷等學科及領域

主要功能

TEM形貌觀察及HRTEM，SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping

樣本檢測注意事項

1) 樣品量5mg以上，有特殊要求請及時說明

2) 明確標注樣品成分

3) 要求緩沖液不具有腐蝕性

4) 對其它可能危害儀器的樣品必須事先注明，并告知相關防護措施

測試儀器

儀器名稱: 高分辨透射電鏡測試(300kv TEM)

儀器型號: Tecnai G2 F30

儀器廠家: FEI

儀器產(chǎn)地: 美國

Tecnai G2 F30 是一臺真正多功能、多用戶環(huán)境的場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器將各種透射電鏡技術（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS頻譜成像等）進行方便靈活地有機組合，形成了強大的分析功能，從而在同類型儀器中。除具有200KV的各種優(yōu)點外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰(zhàn)性的樣品。同時，該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進行高質(zhì)量、高穩(wěn)定性的TEM、STEM和納米分析。

主要規(guī)格及技術指標：

1) 加速電壓： 200 kV～300 kV

2) 點分辨率：0.20 nm

3) 線分辨率：0.102 nm

4) 信息限度：0.14 nm

5) TEM放大倍數(shù)范圍 60 Χ -1000kx

6) 相機長度（mm）80 - 4，500

7) 衍射角度 ±12

8) STEM HAADF分辨率：0.19 nm

9) STEM放大倍數(shù)范圍：150 Χ -230Mx

10) 能譜分辨率：≤ 136 eV

11) 能量過濾器分辨率：≤ 0.9 eV

測試案例：